Characterization. The X-ray diffrac

Characterization. The X-ray diffraction (XRD) patterns were recorded on a Japan Rigaku D/Max-RB X-ray diffracto- meter with Cu KR radiation (λ ) 1.54178 Å). Transmission electron microscopy (TEM) images were taken on a JEOL JEM- 200CX with an accelerating voltage of 200 kV, and the high- resolution transmission electron microscopy (HRTEM) image was taken on a JEOL JEM-2010F with an accelerating voltage of 200 kV. Selected-area electron diffraction (SAED) was also taken on a JEOL JEM-2010F field emission transmission electron microscope. Fourier transform infrared (FTIR) spectra were obtained on an AVATAR370 spectrometer. The nitrogen adsorption and desorption isotherms at 77 K were measured with a Micrometrics ASAP 3000 analyzer. Before measurement, the samples were degassed in vacuo at 200 °C for at least 6 h.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ลักษณะ รูปแบบการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ (XRD) ถูกบันทึกไว้ในเครื่องวัดรังสีเอกซ์ Rigaku D / Max-RB ของญี่ปุ่นพร้อมรังสี Cu KR ( ) 1.54178 Å) ภาพกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน (TEM) ถ่ายด้วย JEOL JEM-200CX ที่มีแรงดันไฟฟ้าเร่ง 200 kV และภาพกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่านความละเอียดสูง (HRTEM) ถ่ายด้วย JEOL JEM-2010F ที่มีแรงดันไฟฟ้าเร่ง 200 kV . การเลี้ยวเบนของอิเล็กตรอนในพื้นที่ที่เลือก (SAED) ยังถูกถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่านสนาม JEOL JEM-2010F ได้รับสเปกตรัมอินฟราเรดการแปลงฟูริเยร์ (FTIR) บนสเปกโตรมิเตอร์ AVATAR370 ไอโซเทอร์มการดูดซับและการคายการดูดซึมของไนโตรเจนที่ 77 K ถูกวัดด้วยเครื่องวิเคราะห์ระดับไมโครเมตริก ASAP 3000 ก่อนการวัด ตัวอย่างถูกไล่แก๊สในสุญญากาศที่ 200 °C เป็นเวลาอย่างน้อย 6 ชั่วโมง

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ภาพวาด แผนที่ X-ray Diffuser (XRD) ถูกบันทึกไว้ใน Rigaku D / Max RB X-ray Diffuser ในประเทศญี่ปุ่นด้วยรังสี Cu KR (lambda) 1.54178 a ถ่ายภาพด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน Transmissive Electronic Microscope (TEM) บน JEOL JEM-200CX ที่มีแรงดันไฟฟ้าเร่ง 200 กิโลโวลต์ ถ่ายภาพด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน Transmissive Electronic Microscope (TEM) ความละเอียดสูงบน JEOL JEM-200CX ที่มีแรงดันไฟฟ้าเร่ง 200 กิโลโวลต์ ถ่ายภาพด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน Transmissive Electronic Microscope (SAED) ใน JEOL JEM-200CX Field Transmissive Electronic Microscope สเปกตรัมอินฟราเรดแปลงฟูริเยร์ (FTIR) ได้มาจากสเปกโตรมิเตอร์ AVTAR370 การวัดไอโซมิเตอร์การดูดซับไนโตรเจนและการดูดซับที่ 77K ด้วยเครื่องวิเคราะห์ Micrometrics ASAP 3000 ตัวอย่าง degassing สูญญากาศที่อุณหภูมิ 200 องศาเซลเซียสเป็นเวลาอย่างน้อย 6 ชั่วโมงก่อนการวัด

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การสร้างตัวละคร รูปแบบการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์( XRD )ถูกบันทึกไว้ในเครื่องวัดการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ของRigaku d/Max-RBของประเทศญี่ปุ่นที่มีการแผ่รังสีCu KR (λ)1.54178ภาพของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่งผ่าน( TEM )ถูกถ่ายบนJEM-200 CXที่แรงดันเร่งความเร็ว200กิโลวัตต์และภาพของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่งผ่านความละเอียดสูง( HRTEM )ถูกถ่ายบนJEM-2010 Fที่แรงดันเร่งความเร็ว200กิโลวัตต์ การเลี้ยวเบนอิเล็กตรอนของเขตเลือกตั้ง( SAED )ยังทําบนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่งผ่านJEM-2010 f สเปกตรัมการแปลงฟูเรียร์อินฟราเรด( FTIR )ได้จากเครื่องสเปกโตรมิเตอร์AVATAR 370 การวัดการดูดซับไนโตรเจนและการดูดซับไอโซเทอร์ที่77 kโดยใช้เครื่องวิเคราะห์ไมโครเมตริกASAP 3000 ตัวอย่างถูกปลดปล่อยในสูญญากาศที่อุณหภูมิ200องศาเซลเซียสเป็นเวลาอย่างน้อย6ชั่วโมงก่อนการวัด