The microstructure of the films was

The microstructure of the films was characterized by field-emission scanning electron microscopy (FESEM, FEI Inspect F50), transmission electron microscopy (TEM, FEI Tecnai F20 G2) and X-ray Diffraction (XRD, Bruker D8 Advance with Cu Kα radiation).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

โครงสร้างจุลภาคของภาพยนตร์ถูกลักษณะปล่อยฟิลด์แกนอิเล็กตรอน (FESEM, F50 ตรวจเฟย), ส่งอิเล็กตรอน (TEM เฟย Tecnai F20 G2) และเลี้ยวเบนของแสงเอ็กซเรย์ (XRD, Bruker ล่วงหน้า D8 กับ Cu Kα รังสี)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

จุลภาคของภาพยนตร์ก็มีลักษณะการใช้กล้องจุลทรรศน์ฟิลด์ปล่อยอิเล็กตรอนสแกน (FESEM เฟตรวจสอบ F50) กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (TEM เฟ Tecnai F20 G2) และ X-ray Diffraction (XRD, Bruker D8 แอดวานซ์รังสี Cu Kα)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

โครงสร้างจุลภาคของฟิล์มมีลักษณะการปล่อยข้อมูลกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( fesem เฟย F50 , ตรวจสอบ , การส่งกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ( TEM ) , f20 เฟย tecnai G2 ) และการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์บรุคเกอร์ , d8 ล่วงหน้ากับ Cu K αรังสี )