The UV-Visible spectra of silver na

The UV-Visible spectra of silver nanoparticles were recorded
as a function of wavelength using UVeVis spectrophotometer
(Helios Gamma, Thermo Corporation, England) operated at a
resolution of 0.5 nm. The shape and size of silver nanoparticles
were determined by SEM equipped with EDX, FESEM
and TEM. For SEM and elemental analysis the dried reaction
mixtures were subjected to JEOL-JSM-5400, Japan, SEM operating
at 30 kV. The shape of nanoparticles was further characterized
by FESEM (Agilent, 8500, USA). For TEM, a drop of
aqueous silver nanoparticles sample was loaded on a carboncoated
copper grid, and it was allowed to dry in room temperature,
the micrographs were obtained using TEM (JEOLJEM-1200
EX, Japan) operating at 80 kV. The electron diffraction
pattern for a selected area was also recorded. The average
particle size and size distribution were determined by PSSNICOMP
380-ZLS particle sizing spectrophotometer, St. Barbara,
USA. XRD pattern was carried out using X'Pert Pro X-ray
diffractometer (PANalytical, Japan). The target was Cu ka radiation
and with l ¼ 1.54 A˚ , the generator operated at 40 kV
and 40 mA, and the scanning mode was continuous with
scanning range (2q) from 4
~ 90
. FT-IR measurements were
carried out using Nicolet 6700, USA FT-IR spectrophotometer
by employing KBr pellet technique. The FT-IR spectra were
collected from 50 scans at a resolution of 4 cm1 in the
transmission mode (4000e400 cm1
).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

บันทึกมุมมอง UV เก็บกักเงินเป็นฟังก์ชันของความยาวคลื่นที่ใช้สเปค UVeVis(Helios แกมมา เทอร์โม คอร์ปอเรชั่น อังกฤษ) ดำเนินการที่เป็นความละเอียด 0.5 nm รูปร่างและขนาดของเก็บกักเงินดำเนินการ โดย SEM พร้อมกับเห็น EDX, FESEMและ TEM SEM และการวิเคราะห์ธาตุปฏิกิริยาแห้งส่วนผสมถูก JEOL-JSM-5400 ญี่ปุ่น การใช้งาน SEMที่ 30 kV รูปร่างของเก็บกักเพิ่มเติมลักษณะพิเศษโดย FESEM (Agilent, 8500 สหรัฐอเมริกา) สำหรับ TEM การลดลงของตัวอย่างน้ำเก็บกักเงินถูกโหลดบนเครื่อง carboncoatedตารางทองแดง และได้รับอนุญาตให้แห้งในอุณหภูมิห้องmicrographs ได้รับมาใช้ TEM (JEOLJEM-1200เช่น ประเทศญี่ปุ่น) 80 kV การเลี้ยวเบนของอิเล็กตรอนรูปแบบสำหรับพื้นที่ที่เลือกถูกบันทึกไว้ ค่าเฉลี่ยขนาดอนุภาคและการกระจายขนาดดำเนินการ โดย PSSNICOMP380 ZLS อนุภาคขนาดสเปค เซนต์บาร์บาราสหรัฐอเมริกา รูปแบบ XRD ดำเนินการใช้เอ็กซเรย์ Pro X'Pertdiffractometer (PANalytical ญี่ปุ่น) เป้าหมายคือ รังสี Cu kaและ l ¼ A˚ 1.54 เครื่องกำเนิดไฟฟ้าทำงานที่ 40 kVและ 40 mA และโหมดการสแกนได้อย่างต่อเนื่องด้วยการสแกนช่วง (2q) จาก 4 ~ 90 มีการประเมิน IR ฟุตดำเนินการโดยใช้ Nicolet 6700 สเปคอเมริกาฟุต-IRโดยใช้เทคนิคเม็ด KBr กระจายฟุต-IRรวบรวมจาก 50 สแกนที่ความละเอียดของ cm1 4 ในการโหมดการส่ง (4000e400 cm1).

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

สเปกตรัมรังสียูวีที่มองเห็นอนุภาคนาโนของเงินที่ถูกบันทึกไว้
เป็นหน้าที่ของความยาวคลื่นใช้ UVeVis สเปก
(Helios แกมมาเทอร์โมคอร์ปอเรชั่นอังกฤษ) ดำเนินการที่
ความละเอียด 0.5 นาโนเมตร รูปร่างและขนาดของอนุภาคเงิน
ถูกกำหนดโดย SEM พร้อมกับ EDX, FESEM
และ TEM สำหรับ SEM และวิเคราะห์ธาตุปฏิกิริยาแห้ง
ผสมถูกยัดเยียดให้ JEOL JSM-5400-, ญี่ปุ่น, SEM การดำเนินงาน
ณ วันที่ 30 กิโลโวลต์ รูปร่างของอนุภาคนาโนที่มีลักษณะต่อไป
โดย FESEM (Agilent, 8500, สหรัฐอเมริกา) สำหรับ TEM ลดลงของ
เงินน้ำนาโนตัวอย่างถูกโหลดบน carboncoated
ตารางทองแดงและได้รับอนุญาตให้แห้งในอุณหภูมิห้อง
ไมโครได้รับใช้ TEM (JEOLJEM-1200
EX ญี่ปุ่น) ปฏิบัติการที่ 80 กิโลโวลต์ อิเล็กตรอนเลนส์
รูปแบบสำหรับพื้นที่ที่เลือกก็ถูกบันทึกไว้ ค่าเฉลี่ยของ
ขนาดอนุภาคและขนาดการจัดจำหน่ายได้รับการพิจารณาโดย PSSNICOMP
380 ZLS อนุภาคขนาด spectrophotometer เซนต์บาร์บาร่า
สหรัฐอเมริกา รูปแบบ XRD ถูกดำเนินการโดยใช้ X'Pert Pro X-ray
diffractometer (PANalytical ญี่ปุ่น) เป้าหมายคือ Cu Ka รังสี
และ L ¼ 1.54 A, เครื่องกำเนิดไฟฟ้าที่ดำเนินการที่ 40 kV
และ 40 มิลลิแอมป์, และโหมดการสแกนได้อย่างต่อเนื่องกับ
การสแกนช่วง (2Q) ตั้งแต่วันที่ 4? ~ 90 ?. วัด FT-IR ถูก
ดำเนินการโดยใช้ Nicolet 6700, สหรัฐอเมริกา FT-IR spectrophotometer
โดยการใช้เทคนิคเม็ด KBr สเปกตรัม FT-IR ถูก
เก็บรวบรวมจาก 50 สแกนที่ความละเอียด 4 CM1 ใน
โหมดเกียร์ (4000e400 CM1
)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

มองเห็นแสงยูวีของอนุภาคนาโนเงินบันทึกเป็นฟังก์ชันที่ใช้ uvevis spectrophotometer ความยาวคลื่น( Helios บริษัทแกมมา , เทอร์โม , อังกฤษ ) ดำเนินการในความละเอียด 0.5 นาโนเมตร รูปร่างและขนาดของอนุภาคนาโนซิลเวอร์ถูกกำหนดโดยการวัด fesem SEM พร้อม ,และการโปรแกรมอุณหภูมิ สำหรับ SEM และการวิเคราะห์ปฏิกิริยาธาตุ แห้งส่วนผสมจะถูก jeol-jsm-5400 ญี่ปุ่น ซึ่งปฏิบัติการที่ 30 kV . รูปร่างของอนุภาคต่อลักษณะโดย fesem ( Agilent , 8500 , USA ) สำหรับ TEM , หยดอนุภาคเงินที่มีวัตถุประสงค์ใน carboncoated โหลดทองแดง ทองแดงเส้น และได้รับอนุญาตให้แห้งในอุณหภูมิห้องที่ได้รับการ micrographs TEM ( jeoljem-1200แฟนเก่า , ญี่ปุ่น ) ปฏิบัติการที่ 80 กิโล . การเลี้ยวเบนของอิเล็กตรอนรูปแบบสำหรับพื้นที่ที่เลือกและบันทึกไว้ โดยเฉลี่ยขนาดและการกระจายขนาดอนุภาคถูกกำหนดโดย pssnicomp380-zls อนุภาคขนาด Spectrophotometer เซนต์บาร์บาร่าสหรัฐอเมริกาได้ดำเนินการโดยใช้รูปแบบรังสีเอ็กซ์เอ็กซ์เรย์ x"pert Proดิฟแฟรกโทมิเตอร์ ( panalytical , ญี่ปุ่น ) เป้าหมาย คือ ทองแดง กะ รังสีและฉัน¼ 1.54 เป็น˚ , เครื่องกำเนิดไฟฟ้าทำงาน 40 กิโลโวลต์และมา 40 และการสแกนอย่างต่อเนื่องกับโหมดการสแกนช่วง ( 2 ) 4 ~ 90 - การวัดคือการใช้เครื่อง FT-IR nicolet 6700 , สหรัฐอเมริกาโดยการใช้เทคนิคเม็ดา . โดย FT-IR สเปกตคือจำนวน 50 สแกนที่ความละเอียด 4 CM1 ในโหมดการส่งผ่าน ( 4000e400 CM1)