Scanning electron microscopy (SEM)

Scanning electron microscopy (SEM) was used to visualize the external
morphology of the samples by using a Hitachi S-4800 Scanning
Electron Microscope (SEM).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การสแกนอิเล็กตรอน (SEM) ใช้แสดงภาพภายนอกสัณฐานวิทยาของตัวอย่างโดยใช้การสแกนแบบ S-4800 ฮิตาชิกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) ถูกนำมาใช้เพื่อให้มองเห็นภายนอก
ลักษณะทางสัณฐานวิทยาของกลุ่มตัวอย่างโดยใช้ Hitachi S-4800 สแกน
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) เคยเห็นภาพภายนอกลักษณะของกลุ่มตัวอย่าง โดยใช้การสแกน s-4800 ฮิตาชิกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ( SEM )