Surface morphology of as sputtered

Surface morphology of as sputtered and
transferred gold layers was determined by profilometry, confocal microscopy, and atomic force microscopy
(AFM) techniques at three different scales. Electrical properties were examined by conductive AFM technique.

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

สัณฐานพื้นผิวเป็น sputtered และ
โอนชั้นทองถูกกำหนดโดย profilometry กล้องจุลทรรศน์ confocal และกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม
(AFM) เทคนิคที่สามเครื่องชั่งน้ำหนักที่แตกต่างกัน คุณสมบัติทางไฟฟ้ามีการตรวจสอบโดยใช้เทคนิค AFM นำไฟฟ้า

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

สัณฐานวิทยาของพื้นผิวเป็น sputtered และ
โอนทองชั้นถูกกำหนดโดย profilometry ด้วย , กล้องจุลทรรศน์และกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม
( AFM ) เทคนิคที่สามระดับที่แตกต่างกัน สมบัติทางไฟฟ้าและตรวจสอบโดยเทคนิค AFM เอื้อ .