Scanning Electron Microscope (SEM)

Scanning Electron Microscope (SEM) and Scanning Electron Microscope coupled with
Energy Dispersed X-ray (SEM-EDX) to determinate inorganic foulant elemental
composition.
- Fourier Transform Infrared Spectroscopy (FTIR) to identify organic compounds.
- Targeted Energy Dispersive X-Ray Analysis (T-EDXA) as an indication of inorganic
compounds.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนการสแกน (SEM) และกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนการสแกนด้วยพลังงานกระจายเอกซเรย์ (เรื่อง) ให้ธาตุอนินทรีย์ determinate foulantบทประพันธ์-ฟูรีเยแปลงอินฟราเรดก (FTIR) เพื่อระบุสารอินทรีย์-เป้าหมายพลังงาน Dispersive เอกซเรย์วิเคราะห์ (T EDXA) เป็นตัวบ่งชี้ของอนินทรีย์สารประกอบ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) และกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนควบคู่ไปกับการ
ระบาดพลังงานรังสีเอกซ์ (SEM-EDX) เพื่อตามที่กำหนดนินทรีย์ foulant ธาตุ
องค์ประกอบ.
- แปลงฟูริเยร์สเปกอินฟราเรด (FTIR) เพื่อระบุสารประกอบอินทรีย์.
- กระจายพลังงานกำหนดเป้าหมายการวิเคราะห์ X-Ray (T-EDXA) เป็นตัวบ่งชี้ของนินทรีย์
สาร

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) และกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนคู่กับ
พลังงานกระจายตัวรังสีเอกซ์ ( sem-edx ) ธาตุอนินทรีย์ foulant determinate
-
องค์ประกอบ ฟูเรียร์ทรานฟอร์มสเปกโทรสโกปีอินฟราเรด ( FTIR ) ระบุ สารประกอบ อินทรีย์ .
- เป้าหมายพลังงานกระจายตัวรังสีการวิเคราะห์ ( t-edxa ) เป็นตัวบ่งชี้ของอนินทรีย์
สารประกอบ