In the infant mortality (IM) experi

In the infant mortality (IM) experiment and the final test (FT) of
IC reliability, the screening capability for the contaminated metal
particles is generally over than the size, W x L ~ 120 x 120 um2. For
the smaller size of these metal particles in ICs, the IM test is inferior.
Using an efficient test metrology combining the IM test and the soak
test to stress the sampled SRAM (Static random access memory) ICs,
the smaller contaminated metal size with scanning electron
microscope was measured, about W x L = 15 x 120 um2. The
composition of metal particle with energy-dispersive X-ray (EDX) in
material analysis exhibited two main peaks attributed to manganese
(Mn) and ferrum (Fe). In speculation, the humidity effect after the
soak test provided the electro-chemical reaction environment
between two neighboring IC pins, spacing 130 um, in the fine pitch
package. The IM test enhancing the electrical field accelerated this
electro-chemical reaction. Therefore, even though the smaller
contaminated metal particles exist, they with the double-combination
test still can be screened out. Due to this effort, the risk selling ICs to
customers is tremendously reduced. The assembly houses after
information feedback are able to trace the root causes in production
line and improve the package yield.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ในการทดลองการตายทารก (IM) และการทดสอบขั้นสุดท้าย (FT) ของIC ความน่าเชื่อถือ ความสามารถในการคัดกรองสำหรับโลหะปนเปื้อนอนุภาคโดยทั่วไปจะเหนือกว่าขนาด W x L ~ um2 120 x 120 สำหรับขนาดของอนุภาคโลหะเหล่านี้ใน ICs การทดสอบ IM มีน้อยโดยใช้มาตรวิทยาการทดสอบประสิทธิภาพรวมทดสอบ IM และการแช่ทดสอบความเครียด ICs SRAM (Static หน่วยความจำเข้าถึงโดยสุ่ม) ตัวอย่างขนาดเล็กปนเปื้อนโลหะขนาดการสแกนอิเล็กตรอนกล้องจุลทรรศน์มีวัด เกี่ยวกับ W x L = 15 x 120 um2 ที่องค์ประกอบของอนุภาคโลหะมีพลังงาน dispersive เอกซเรย์ (เรื่อง) ในวิเคราะห์วัสดุจัดแสดงยอดหลักสองบันทึกแมงกานีส(Mn) และ ferrum (Fe) ในเก็งกำไร ความชื้นมีผลหลังจากการทดสอบแช่ให้สิ่งแวดล้อมปฏิกิริยาเคมี electroระหว่างสองเพื่อนบ้าน IC หมุด ระยะห่าง 130 อุ่ม ในระดับดีแพคเกจ การทดสอบ IM เพิ่มเขตไฟฟ้าเร่งนี้ปฏิกิริยาเคมี electro ดังนั้น แม้แต่ขนาดเล็กอนุภาคโลหะปนเปื้อนอยู่ พวกเขา ด้วยชุดคู่ทดสอบยังสามารถถูกฉายออกมา จากนี้ความพยายาม ความเสี่ยงขาย ICs เพื่อลูกค้าจะลดลงอย่าง บ้านประกอบหลังจากความคิดเห็นข้อมูลจะสืบต้นตอในการผลิตรายการ และปรับปรุงผลผลิตแพคเกจ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ในเด็กทารก ( IM ) ทดลองและการทดสอบขั้นสุดท้าย ( FT )
2 IC , การคัดกรองสามารถปนเปื้อนโลหะ
อนุภาคทั่วไปมากกว่า ขนาด W x L ~ 120 x 120 ความสามารถ . สำหรับขนาดของอนุภาคโลหะ
เหล่านี้เกี่ยวกับ การทดสอบอิมจะด้อยกว่า .
ใช้ที่มีประสิทธิภาพการทดสอบมาตรวิทยารวม IM ทดสอบและแช่
ทดสอบความเครียดและ SRAM ( หน่วยความจำเข้าถึงสุ่มคงที่ ) ซึ่งปนเปื้อนโลหะขนาดเล็กขนาด

วัดด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด , เกี่ยวกับ W x L = 15 x 120 ความสามารถ .
ส่วนประกอบของอนุภาคโลหะด้วยรังสีเอกซ์พลังงานกระจายตัว ( การวัด ) ในการวิเคราะห์วัสดุหลักสองยอด
) ประกอบกับแมงกานีส
( MN ) และเฟอร์รัม ( Fe ) ในการพิจารณาผลหลังจาก
, ความชื้นแช่ทดสอบให้โรงปฏิกิริยาทางเคมีสิ่งแวดล้อม
ระหว่างสองเพื่อนบ้าน IC พิน ระยะห่าง 130 . ในแพคเกจ Pitch
ดี ในการทดสอบเพิ่มสนามไฟฟ้านี้
โรงเร่งปฏิกิริยาทางเคมี ดังนั้น ถึงแม้ว่าอนุภาคโลหะขนาดเล็ก
ปนเปื้อนอยู่ พวกเขามีคู่รวมกัน
ทดสอบยังสามารถฉายออกมา เนื่องจากความพยายามนี้ความเสี่ยงขายไอซี
ลูกค้าเป็นอย่างมากลดลง คริสตจักรบ้านหลังจาก
ความคิดเห็นข้อมูลสามารถติดตามรากสาเหตุในสายการผลิต
และปรับปรุงแพคเกจ ผลผลิต