The surface morphology, structure,

The surface morphology, structure, size and crystal structure
of self-prepared Fe3O4@SiO2@H2Dz MNPs were characterized by
SEM (30 kV working voltage), TEM and X-ray diffraction, respectively.
The functionalization of dithizone on Fe3O4@SiO2 MNPs was
demonstrated by FT-IR characterization. UV–visible spectroscopy
was used for the quantification of the loaded H2Dz on Fe3O4@SiO2
MNPs, and the surface area and the pore size were determined by
specific surface area and porosity analyzer. With Mg-ray as X-ray
source, the adsorption mechanism of target ions on prepared MNPs
was investigated by XPS.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

สัณฐานวิทยาพื้นผิว โครงสร้างโครงสร้าง ขนาด และคริสตัลการเตรียมด้วยตนเอง Fe3O4@SiO2@H2Dz MNPs มีลักษณะSEM (30 kV ทำงานแรงดัน), TEM และเกลากระจาย ตามลำดับแก้ไข functionalization ของ dithizone บน Fe3O4@SiO2 MNPsแสดงให้เห็น โดยจำแนกลักษณะฟุต-IR สเปกโทรสโก UV – มองเห็นได้ใช้สำหรับนับจำนวน H2Dz โหลดบน Fe3O4@SiO2MNPs และพื้นที่ผิว และรูขุมขนขนาดดำเนินการโดยเฉพาะผิวพื้นที่และความพรุนตัววิเคราะห์คำ มีเรย์ Mg เป็นเอ็กซเรย์แหล่งที่มา กลไกการดูดซับของไอออนเป้าหมายบน MNPs ที่เตรียมไว้รับการตรวจสอบ โดย XPS

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ลักษณะทางสัณฐานวิทยาผิวโครงสร้างขนาดและโครงสร้างผลึก
ของตนเองเตรียม Fe3O4 @ SiO2 @ H2Dz MNPs โดดเด่นด้วย
SEM (ทำงานแรงดันไฟฟ้า 30 กิโลโวลต์) TEM และ X-ray เลนส์ตามลำดับ.
functionalization ของ dithizone บน Fe3O4 @ SiO2 MNPs เป็น
แสดงให้เห็นโดย FT-IR ลักษณะ สเปกโทรสโกยูวีที่มองเห็นได้
ถูกนำมาใช้สำหรับการหาปริมาณของ H2Dz โหลดบน Fe3O4 @ SiO2
MNPs และพื้นที่พื้นผิวและขนาดรูขุมขนที่ถูกกำหนดโดย
พื้นที่ผิวที่เฉพาะเจาะจงและวิเคราะห์ความพรุน ด้วย Mg เรย์ X-ray
มากลไกการดูดซับไอออนเป้าหมายในการเตรียม MNPs
ได้รับการตรวจสอบโดย XPS

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ลักษณะพื้นผิว โครงสร้าง ขนาดและโครงสร้างผลึกของตนเอง เตรียม fe3o4 @ @ h2dz SiO2 mnps มีลักษณะโดยSEM ( 30 kV แรงดันทํางาน ) , TEM และการเลี้ยวเบนของรังสีเอ็กซ์ ตามลำดับการ functionalization ของพุทธวิธีใน fe3o4 @ SiO2 mnps คือแสดงโดย - ตัวละคร UV spectroscopy และมองเห็นได้ใช้สำหรับปริมาณของโหลด h2dz บน fe3o4 @ แร่ซิลิคอนไดออกไซด์mnps และพื้นที่ผิวและขนาดรูพรุนถูกกำหนดโดยพื้นที่ผิวจำเพาะและวิเคราะห์ความพรุน กับ MG Ray เป็นรังสีเอกซ์แหล่งที่มา การดูดซับไอออนที่เตรียม mnps ของเป้าหมายถูกตรวจสอบด้วย XPS .