Force frequencyDiagrams of the tota

Force frequency
Diagrams of the total contact force between the boxes as a function of frequency for linear sine sweep
vibration tests are presented in Figure 3. The peak load in the force‐frequency diagrams corresponds to
the resonance frequency of the system. Changes in the position of this frequency from one test to
another are small and could be due to the sources of uncertainty existing in the tests including friction
loss and hysteresis.
The total contact force in Figure 3 is the sum of the forces registered at all active sensels of the I‐Scan
sensor at a certain time. The contact forces are scaled by the box weight (equal to 190 N). Some
differences are observable between the diagrams for 2–50 and 2–200 Hz. For frequencies lower than the
resonance frequency around 17 Hz, the difference is in the amplitude of the vibration, which is seen to
be higher for the tests with lower sweep rate. It is also seen in the diagrams for the frequency range of
2–200 Hz that, for higher frequencies (over 50 Hz), the force levels decrease significantly to a constant
force level. The sampling frequency of the system was 100 Hz, which, because of Nyquist’s sampling
theorem, limits the information from the higher‐frequency domain. In the sine sweep tests with
frequencies over 50 Hz, results are only valid up to 50 Hz.
It is seen in all the diagrams in Figure 3 that, in the vicinity of the resonance frequency of the
system, the maximum and minimum force diagrams do not present symmetry in loading and
unloading. A possible explanation for this observation is hysteresis in the I‐Scan sensor, i.e. the I‐Scan
system does not react to loading and unloading in the same way and with the same rate.
By comparing the force values obtained from I‐Scan software, it is observed that the initial value
(equal to 1) of the total force from the I‐Scan software scaled by the weight of the box differs from the
value at the end of the test at 50 Hz. This difference is because of the drift in the I‐Scan sensor. This
type of drift is named ‘dynamic drift’ in the present study. Although the boxes were excited with
relatively high frequencies (up to 200 Hz), it is seen in Figure 3 that there only exists one observable
resonance frequency in this range. As our linear sine sweep tests were carried out with a constant
acceleration of 0.5 g, the amplitude of the vibrations decreases with frequency. Hence, the second
resonance frequency of the system could probably be buried in the parts with low amplitude.
Figure 3. Scaled total contact force versus frequency diagrams from linear sine sweep test results. The
results to the left and the right are for the test according to (a) 75S50 and (b) 75S200, respectively.
Each test took 2 min to complete, and the resonance frequency is around 17 Hz.
322 A. JAMIALAHMADI, T. TROST AND S. ÖSTLUND
Copyright © 2011 John Wiley & Sons, Ltd. Packag. Technol. Sci. 2011; 24: 317–329
DOI: 10.1002/

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

บังคับความถี่ไดอะแกรมของแรงติดต่อทั้งหมดระหว่างช่องที่เป็นฟังก์ชันของความถี่สำหรับกวาดไซน์เชิงเส้นการทดสอบการสั่นสะเทือนจะแสดงในรูปที่ 3 โหลดสูงสุดในไดอะแกรม force‐frequency สอดคล้องกับความถี่เรโซแนนซ์ของระบบ การเปลี่ยนแปลงในตำแหน่งของความถี่นี้จากการทดสอบหนึ่งอื่นที่มีขนาดเล็ก และอาจเนื่องจากแหล่งมาของความไม่แน่นอนที่มีอยู่ในการทดสอบรวมถึงแรงเสียดทานขาดทุนและส่วนแรงติดต่อทั้งหมดในรูปที่ 3 มีผลรวมของการบังคับลงทะเบียน sensels ใช้งานอยู่ทั้งหมดของ I‐Scanเซ็นเซอร์ในบางเวลา กองกำลังติดต่อได้รับการปรับ โดยน้ำหนักกล่อง (เท่ากับ 190 N) บางความแตกต่างสังเกตได้ระหว่างไดอะแกรม 2 – 50 และ 2 – 200 Hz สำหรับความถี่ต่ำกว่าความถี่เรโซแนนซ์ประมาณ 17 Hz ความแตกต่างคือแอมพลิจูดของการสั่น ซึ่งจะเห็นการจะสูงขึ้นสำหรับการทดสอบอัตราการกวาดล่าง มันยังเห็นในไดอะแกรมสำหรับช่วงความถี่2 – 200 Hz ว่า สำหรับความถี่สูง (มากกว่า 50 Hz), ระดับแรงลดลงอย่างมีนัยสำคัญที่ค่าคงที่บังคับระดับ ความถี่สุ่มตัวอย่างของระบบเป็น 100 Hz ซึ่ง เนื่องจากยังของการสุ่มตัวอย่างทฤษฎีบท จำกัดข้อมูลจากโดเมน higher‐frequency ในการทดสอบกวาดไซน์ด้วยความถี่กว่า 50 Hz ผลลัพธ์จะถูกต้องค่า 50 Hz เท่านั้นในไดอะแกรมทั้งหมดในรูปที่ 3 ที่ ตั้งความถี่เรโซแนนซ์ของการระบบ แผนผังแรงสูงสุด และต่ำสุดปัจจุบันสมมาตรในการโหลด และขน Hysteresis ในเซน I‐Scan เช่น I‐Scan คือคำอธิบายที่เป็นไปได้สำหรับข้อสังเกตนี้ระบบไม่ตอบสนองต่อ ขน ในแบบเดียวกัน และ มีอัตราเดียวกันโดยการเปรียบเทียบค่าแรงที่ได้จากซอฟต์แวร์ I‐Scan มันเป็นข้อสังเกตที่ค่าเริ่มต้น(เท่ากับ 1) ของกองทัพทั้งหมดจากการ I‐Scan ซอฟต์แวร์ปรับสัดส่วน โดยน้ำหนักของกล่องที่แตกต่างจากการค่าเมื่อสิ้นสุดการทดสอบที่ 50 Hz ความแตกต่างนี้เป็น เพราะดริฟท์ในเซน I‐Scan นี้ชนิดของดริฟท์ชื่อ 'ดริฟท์แบบไดนามิก' ในการศึกษา ถึงแม้ว่ากล่องได้ตื่นเต้นด้วยความถี่ค่อนข้างสูง (เกิน 200 Hz), มันมีให้เห็นในรูปที่ 3 ว่า มีเท่าที่มีอยู่หนึ่งสังเกตได้ความถี่เรโซแนนซ์ในช่วงนี้ เป็นเชิงเส้นไซน์กวาดของเรา การทดสอบดำเนินการกับค่าคงความเร่ง 0.5 กรัม แอมพลิจูดของการสั่นลดลงตามความถี่ ดังนั้น ที่สองความถี่เรโซแนนซ์ของระบบอาจจะอาจจะฝังอยู่ในส่วนที่มีความกว้างต่ำรูปที่ 3 อัตรารวมติดต่อกองกับไดอะแกรมความถี่จากผลการทดสอบเชิงเส้นไซน์กวาด การผลลัพธ์ด้านซ้ายและขวาอยู่สำหรับการทดสอบตาม (ก) 75S50 และ (b) 75S200 ตามลำดับแต่ละการทดสอบใช้เวลา 2 นาทีเพื่อให้เสร็จสมบูรณ์ และความถี่เรโซแนนซ์ ประมาณ 17 Hz322 A. JAMIALAHMADI, TROST ต. และ S. ÖSTLUNDลิขสิทธิ์ © 2011 John Wiley & Sons จำกัดบรรจุหีบห่อ Technol. วิทย์. 2011 24:317 – 329ดอย: 10.1002 /

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ความถี่กองทัพ
แผนภาพของแรงติดต่อรวมระหว่างช่องเป็นหน้าที่ของความถี่ไซน์กวาดเส้น
ทดสอบการสั่นสะเทือนจะถูกนำเสนอในรูปที่ 3 โหลดสูงสุดในแผนภาพแรงความถี่ที่สอดคล้องกับ
เสียงสะท้อนความถี่ของระบบ การเปลี่ยนแปลงในตำแหน่งของความถี่นี้จากการทดสอบที่หนึ่งไปยัง
อีกคนหนึ่งมีขนาดเล็กและอาจเป็นเพราะแหล่งที่มาของความไม่แน่นอนที่มีอยู่ในการทดสอบรวมทั้งแรงเสียดทาน
และการสูญเสีย hysteresis.
แรงติดต่อทั้งหมดในรูปที่ 3 คือผลรวมของกองกำลังที่ลงทะเบียนในทุกการใช้งาน sensels ของ I-Scan
เซ็นเซอร์ในเวลาที่แน่นอน กองกำลังติดต่อมีการปรับขนาดโดยน้ำหนักกล่อง (เท่ากับ 190 N) บาง
ความแตกต่างที่สังเกตได้ระหว่างแผนภาพสำหรับ 2-50 และ 2-200 Hz สำหรับความถี่ต่ำกว่า
เสียงสะท้อนความถี่ประมาณ 17 เฮิร์ตซ์ที่แตกต่างกันอยู่ในความกว้างของการสั่นสะเทือนซึ่งจะเห็นไป
จะสูงขึ้นสำหรับการทดสอบที่มีอัตราการกวาดล่าง นอกจากนี้ยังเห็นได้ในแผนภาพสำหรับช่วงความถี่ของ
2-200 Hz ว่าสำหรับความถี่สูง (มากกว่า 50 Hz) ระดับแรงลดลงอย่างมีนัยสำคัญในการคง
ระดับแรง ความถี่ในการสุ่มตัวอย่างของระบบ 100 Hz ซึ่งเนื่องจากของการสุ่มตัวอย่าง Nyquist ของ
ทฤษฎีบท จำกัด ข้อมูลจากโดเมนความถี่ที่สูงขึ้น ในการทดสอบกวาดไซน์ที่มี
ความถี่มากกว่า 50 เฮิร์ตซ์ผลที่ถูกต้องเท่านั้นถึง 50 Hz.
มันมีให้เห็นในแผนภาพทั้งหมดที่อยู่ในรูปที่ 3 ว่าในบริเวณใกล้เคียงของเสียงสะท้อนความถี่ของ
ระบบแผนภาพสูงสุดและแรงขั้นต่ำทำ ไม่สมมาตรในปัจจุบันการโหลดและการ
ขนถ่าย คำอธิบายที่เป็นไปได้สำหรับข้อสังเกตนี้เป็น hysteresis ในเซ็นเซอร์ผม-Scan คือ I-สแกน
ระบบไม่ตอบสนองต่อการขนถ่ายในลักษณะเดียวกันและมีอัตราเดียวกัน.
โดยการเปรียบเทียบค่าแรงที่ได้จากซอฟแวร์ I-สแกน จะมีการตั้งข้อสังเกตว่าค่าเริ่มต้น
(เท่ากับ 1) ของรวมพลังจากซอฟต์แวร์ฉัน-Scan ปรับขนาดโดยน้ำหนักของกล่องที่แตกต่างจาก
มูลค่าในตอนท้ายของการทดสอบที่ 50 เฮิร์ตซ์ ความแตกต่างนี้เป็นเพราะการดริฟท์ในเซ็นเซอร์ I-สแกน นี้
ประเภทของการดริฟท์เป็นชื่อ 'ดริฟท์แบบไดนามิกในการศึกษาครั้งนี้ แม้ว่าช่องมีความตื่นเต้นที่มี
ความถี่ค่อนข้างสูง (ถึง 200 เฮิร์ตซ์) ก็มีให้เห็นในรูปที่ 3 ว่ามีอยู่เพียงคนเดียวที่สังเกต
เสียงสะท้อนความถี่ในช่วงนี้ ในฐานะที่เป็นเชิงเส้นทดสอบกวาดไซน์ของเราได้ดำเนินการอย่างต่อเนื่องกับ
การเร่งความเร็วของ 0.5 กรัม, ความกว้างของการสั่นสะเทือนลดลงด้วยความถี่ ดังนั้นที่สอง
เสียงสะท้อนความถี่ของระบบอาจอาจจะถูกฝังอยู่ในส่วนที่มีความกว้างต่ำ.
รูปที่ 3 แรงติดต่อสเกลรวมเมื่อเทียบกับแผนภาพความถี่จากผลการทดสอบเชิงเส้นไซน์กวาด
ผลไปทางซ้ายและขวาเป็นสำหรับการทดสอบให้เป็นไปตาม (ก) 75S50 และ (ข) 75S200 ตามลำดับ.
แต่ละการทดสอบใช้เวลา 2 นาทีให้เสร็จสมบูรณ์และเสียงสะท้อนความถี่ประมาณ 17 Hz.
322 A. JAMIALAHMADI ตัน TROST และ S. Östlund
ลิขสิทธิ์© 2011 John Wiley & Sons, Ltd Packag วิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี วิทย์ ปี 2011 24: 317-329
ดอย: 10.1002 /

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ความถี่บังคับแผนภาพของแรงที่ติดต่อทั้งหมดระหว่างกล่องเป็นฟังก์ชันของความถี่เชิงเส้นกวาด ไซน์การทดสอบการสั่นสะเทือนจะแสดงในรูปที่ 3 ยอดโหลดแรง‐แผนภาพสอดคล้องกับความถี่เสียงสะท้อน ความถี่ของระบบ การเปลี่ยนแปลงในตำแหน่งของความถี่จากทดสอบอื่นมีขนาดเล็ก และอาจเป็นเพราะแหล่งความไม่แน่นอนที่มีอยู่ในการทดสอบ ได้แก่ แรงเสียดทานการสูญเสียและการวิเคราะห์ .แรงติดต่อ ทั้งหมดในรูปที่ 3 คือ ผลรวมของหน่วยจดทะเบียนที่ sensels การใช้งานทั้งหมดของฉัน‐สแกนเซ็นเซอร์ในเวลาที่แน่นอน ติดต่อกองกําลังจะถูกปรับโดยกล่องน้ำหนัก ( เท่ากับ 190 N ) บางสังเกตความแตกต่างระหว่างภาพ 2 – 2 – 50 และ 200 Hz . สำหรับความถี่ต่ำกว่าเรโซแนนซ์ความถี่ประมาณ 17 Hz ความแตกต่างในขนาดของการสั่นสะเทือน ซึ่งจะเห็นจะสูงสำหรับการทดสอบอัตรากวาดล่าง ก็ยังเห็นในแผนภาพสำหรับช่วงความถี่ของ2 – 200 Hz ที่ความถี่สูง ( 50 Hz ) , ระดับแรงลดลงไปอย่างต่อเนื่องระดับแรง ความถี่ในการสุ่มตัวอย่างของระบบ 100 Hz เพราะของไนควิสต์ของการสุ่มตัวอย่างทฤษฎีบท , ขีด จำกัด ข้อมูลจากที่สูง‐ความถี่โดเมน ในการทดสอบกับไซน์ กวาดความถี่ 50 เฮิรตซ์ ผลลัพธ์จะถูกต้องถึง 50 Hz .จะเห็นได้ในแผนภูมิทั้งหมดในรูปที่ 3 นั้น ในบริเวณใกล้เคียงของเรโซแนนซ์ความถี่ของระบบ , สูงสุดและแผนภาพแรงขั้นต่ำไม่สมมาตรในการปัจจุบันขน คำอธิบายที่เป็นไปได้สำหรับการสังเกตนี้เป็นแบบที่ผม‐สแกนเซ็นเซอร์ เช่น ผม‐สแกนระบบไม่ตอบสนองการขนถ่ายในทางเดียวกับอัตราเดียวกันโดยการเปรียบเทียบค่าพลังที่ได้จากฉัน‐ซอฟแวร์สแกน พบว่า ค่าเริ่มต้น( เท่ากับ 1 ) ของแรงทั้งหมดจากฉัน‐สแกนซอฟแวร์ปรับขนาดโดยน้ำหนักของกล่องที่แตกต่างจากค่าสุดท้ายของการทดสอบที่ 50 Hz . ความแตกต่างนี้เป็นเพราะดริฟท์ในผม‐สแกน sensor นี้ประเภทของดริฟท์มีชื่อว่า " ดริฟท์ " แบบไดนามิกในการศึกษาปัจจุบัน แม้ว่ากล่องตื่นเต้นกับความถี่ค่อนข้างสูง ( ถึง 200 Hz ) ก็จะเห็นในรูปที่ 3 นั้นมีอยู่หนึ่งสังเกตเรโซแนนซ์ความถี่ในช่วงนี้ ตามที่การทดสอบของเราที่มีเส้นกวาด ได้ดำเนินการกับคงที่การเร่งความเร็วของ 0.5 กรัม , ขนาดของการสั่นสะเทือนที่ลดลงที่ความถี่ ดังนั้น สองเรโซแนนซ์ความถี่ของระบบอาจจะฝังอยู่ในส่วนที่มีความอุดมสมบูรณ์ต่ำรูปที่ 3 ขนาดรวมติดต่อบังคับความถี่ไดอะแกรมจากกวาดไซน์ผลการทดสอบเชิงเส้น ที่ผลลัพธ์ในด้านซ้ายและด้านขวาสำหรับการทดสอบตาม ( ก ) และ ( ข ) 75s50 75s200 ตามลำดับการทดสอบแต่ละครั้งจะใช้เวลา 2 นาทีให้เสร็จสมบูรณ์ และเสียงสะท้อน ความถี่ประมาณ 17 เฮิรตซ์322 . jamialahmadi ต. trost Ö stlund และ sสงวนลิขสิทธิ์สงวนลิขสิทธิ์ 2011 จอห์นนิ่ง & Sons , Ltd Contact Technol . สภาวะโลกร้อน 2011 ; 24 : 317 – 329ดอย : 10.1002/