2.5.4. Morphology examinationThe mo

2.5.4. Morphology examination
The morphology of silica in both uncompounded and
vulcanized samples was examined by using a scanning
electron microscope (model S-2500, Hitachi) at an accelerating
voltage of 15 kV and vacuum atmosphere. Newly
cryogenically fractured surfaces of the rubber specimens
were prepared before coating with Pt–Pd to prevent the
charging on the surface.

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

2.5.4 การตรวจสอบทางสัณฐานวิทยาสัณฐานวิทยาของซิลิกาทั้งใน uncompounded และตัวอย่างวัลคาไนถูกตรวจสอบโดยใช้การสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน(รุ่น S-2500 ฮิตาชิ) ที่เร่งแรงดันไฟฟ้า15 กิโลโวลต์ของบรรยากาศและสูญญากาศ ใหม่cryogenically ร้าวพื้นผิวของตัวอย่างยางได้จัดทำขึ้นก่อนการเคลือบด้วยPt-Pd เพื่อป้องกันไม่ให้การชาร์จบนพื้นผิว

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

2.5.4 . ลักษณะสัณฐานวิทยาของซิลิกาในการสอบ

ทั้ง uncompounded วัลคาไนซ์และตัวอย่าง ทำการทดสอบโดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสแกน
( แบบ s-2500 , ฮิตาชิ ) ที่เร่ง
แรงดัน 15 กิโล และบรรยากาศสูญญากาศ ใหม่
cryogenically หักพื้นผิวของชิ้นงานยาง
เตรียมก่อนเคลือบด้วยแพลทินัม– PD เพื่อป้องกัน
ประจุบนพื้นผิว