XRD studies of SiC and CeO2XRD anal

XRD studies of SiC and CeO2
XRD analyses were performed with a Philips APD 3720 powder
diffractometer using a Bragg–Brentano geometry with Cu Ka radiation
(k = 1.542 A) in the 2 theta-angle range from 10 to 70. Analyses
were performed on selected pellets described above as well as
samples specifically prepared for XRD analysis to study the interactions
of CeO2 with SiC.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ศึกษา XRD ของ SiC และ CeO2ดำเนินการวิเคราะห์ XRD ด้วยฝุ่น Philips APD 3720ใช้แบรก – Brentano เรขาคณิตกับ Cu Ka diffractometer(k = 1.542 A) ในช่วงมุมที 2 จาก 10 ถึง 70 วิเคราะห์ได้ดำเนินการในเม็ดเลือกอธิบายไว้ข้างต้นเป็นตัวอย่างที่เตรียมไว้โดยเฉพาะสำหรับวิเคราะห์ XRD เพื่อศึกษาปฏิสัมพันธ์ของ CeO2 กับ SiC

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การศึกษา XRD ของ SiC และ CEO2
XRD ได้ดำเนินการวิเคราะห์ด้วย Philips APD 3720 ผง
diffractometer โดยใช้รูปทรงเรขาคณิต Bragg-Brentano กับลูกบาศ์กการังสี
(k = 1.542 A) ในช่วง 2 theta มุมตั้งแต่ 10 ถึง 70 วิเคราะห์
ได้ดำเนินการเกี่ยวกับการเลือก เม็ดอธิบายไว้ข้างต้นเช่นเดียวกับ
กลุ่มตัวอย่างที่จัดทำขึ้นมาโดยเฉพาะสำหรับการวิเคราะห์ XRD เพื่อศึกษาปฏิสัมพันธ์
ของ CEO2 มีดังนี้

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การศึกษาและวิเคราะห์ของ SIC CeO2ตรวจวิเคราะห์จำนวนกับ Philips APD 3720 ผงดิฟแฟรกโทมิเตอร์ใช้เบรก–โนเรขาคณิตกับทองแดง กะ รังสี( K = 1.542 ) ในช่วง 2 ทีมุมจาก 10 ถึง 70 การวิเคราะห์จำนวนเม็ดที่อธิบายไว้ข้างต้นรวมทั้งตัวอย่างเฉพาะเตรียมตรวจวิเคราะห์เพื่อศึกษาปฏิสัมพันธ์ของ CeO2 ที่มี SiC