IV. SAMPLE RELIABILITY MODEL:ATEST

IV. SAMPLE RELIABILITY MODEL:ATEST CASE
The reliability of the closed-loop boost converter for the
change in MOSFET’s ON-state resistance from 34 to 44 mΩ,
in capacitance variation from 5 to 10 μF, and in ESR variation
from 0.1 to 0.18 Ω will be presented here.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

กรณี IV อย่างน่าเชื่อถือรุ่น: ATESTความน่าเชื่อถือของแปลงเพิ่มปิดสำหรับการการเปลี่ยนแปลงของมอสเฟตในสถานะทนทานต่อจาก 34 44 mΩในความเปลี่ยนแปลงจาก 5 10 μF และ ในรูปแบบ ESRจาก 0.1 ถึง 0.18 Ωจะแสดงที่นี่

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

IV ตัวอย่างความน่าเชื่อถือ MODEL: กรณี Atest
ความน่าเชื่อถือของวงปิดแปลงเพิ่มสำหรับการเปลี่ยนแปลงในมอสเฟตของต้านทาน ON-รัฐ 34-44 mΩ, ในรูปแบบความจุ 5-10 μFและในรูปแบบ ESR 0.1-0.18 Ωจะ นำเสนอที่นี่

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

4 . ตัวอย่างแบบ : แบบวัดความเชื่อมั่นกรณี
แบบวงปิดเพิ่มแปลงสำหรับ
เปลี่ยนมอสเฟตคือสภาพต้านทานจาก 34 44 เมตร Ω
ในรูปแบบ , ความจุจาก 5 ถึง 10 μ F และ ESR การแปร
จาก 0.1 ถึง 0.3 Ωจะแสดงที่นี่