Atomic force microscopy (TT-AFM, AF

Atomic force microscopy (TT-AFM, AFM workshop, Signal Hill,
CA, USA) was used to perform nanostructural analysis of pectin.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

แรงอะตอม microscopy (TT-AFM, AFM เชิง สัญญาณฮิลล์CA, USA) ถูกใช้เพื่อทำการวิเคราะห์ nanostructural ของเพกทิน

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (TT-AFM การประชุมเชิงปฏิบัติการ AFM, Signal Hill,
CA, USA) ถูกใช้ในการดำเนินการวิเคราะห์ nanostructural ของเพคติน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม ( tt-afm AFM , การประชุมเชิงปฏิบัติการ , สัญญาณฮิลล์ ,
CA , USA ) ถูกใช้เพื่อวิเคราะห์ nanostructural ของเพคติน