To identify the mineral phases in s

To identify the mineral phases in soils, the clay fractions of selected soil samples were sieved, where
the contaminant metals are more likely concentrated [22]. This metal-rich fraction was then characterized
using X-ray diffraction (XRD, Ultima IV, Rigaku) with Cu Kα radiation (40kv, 40mA) and PDXL2
software with ICDD (2012). Samples were scanned at room temperature by using start angle 10º, end
angle 45º, step size 0.02º with a scanning speed 2º m-1. Selected soil clay was also observed using a
scanning electron microscopy (SEM, JSM-6510LV).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ระบุระยะแร่ในดินเนื้อปูน เศษดินตัวอย่างเลือกดินที่ sieved ที่โลหะที่สารปนเปื้อนจะเข้มข้นขึ้น [22] เศษนี้อุดมไปด้วยโลหะมีลักษณะแล้วใช้เอ็กซ์เรย์การเลี้ยวเบน (XRD ทวีดอัลติมา IV, Rigaku) รังสี Cu Kα (40kv, 40mA) และ PDXL2ซอฟต์แวร์กับ ICDD (2012) มีสแกนตัวอย่างที่อุณหภูมิห้องโดย 10º มุมเริ่มต้น สิ้นสุดมุม 45º ขั้นตอนขนาด 0.02º มีการสแกนความเร็ว 2º m-1 ดินดินที่เลือกยังถูกสังเกตโดยใช้แบบการสแกน microscopy อิเล็กตรอน (SEM, JSM-6510LV)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

เพื่อระบุขั้นตอนแร่ธาตุในดินที่เศษส่วนของดินตัวอย่างดินที่เลือกถูกร่อนที่โลหะสารปนเปื้อนที่มีความเข้มข้นมากขึ้นมีแนวโน้มที่ [22]
ส่วนโลหะที่อุดมไปด้วยแล้วนี่คือลักษณะการใช้ X-ray diffraction (XRD ในที่สุด IV ของ Rigaku) ​​ด้วยการฉายรังสี Cu Kα (40kv, 40mA) และ PDXL2 ซอฟต์แวร์ที่มี ICDD (2012) ตัวอย่างถูกสแกนที่อุณหภูมิห้องโดยใช้มุม10ºเริ่มต้นปลายมุม45ºขนาด0.02ºขั้นตอนที่มีความเร็วในการสแกน2ºม. 1 เลือกดินเหนียวดินพบว่ายังใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM, JSM-6510LV)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ระบุขั้นตอนในแร่ดิน ดินเหนียวที่เศษส่วนของตัวอย่างดินขนาดไหน
สารปนเปื้อนมีแนวโน้มเข้มข้น [ 22 ] ส่วนโลหะนี้รวยแล้วลักษณะ
โดยใช้การเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ Ultima IV , rigaku ) ที่มี Cu K αรังสี ( 40kv 40Ma , ) และซอฟต์แวร์ pdxl2
กับ icdd ( 2012 ) จำนวนการสแกนที่อุณหภูมิห้องโดยใช้มุม 10 ºเริ่มจบ
มุม 45 ºขั้นตอนขนาด 0.02 ºกับความเร็วในการสแกน 2 º m-1 เลือกดินพบว่าดินที่ใช้
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM jsm-6510lv )