Because of this interference, care

Because of this interference, care must be taken in the polarographic determination of the selenium
and mentioned ions when they are found in the same solution. In other words, without considering this kind
of interference, most electroanalytical determinations in solutions that contain both Se(IV) and at least one
of these ions will be wrong. In our earlier work 1,2, the proposed method for the determination of selenium in
the presence of interfering metal ion needs to convert all selenium to intermetallic form by adding an excess
of one of the interfering ions and therefore needs an indirect procedure resulting in extra-ions in the sample.
In addition, when selenium and more than one interfering ion are found in the same medium (PbSe, CdSe
and SnSe intermetallic peaks are at about the same potentials) another method for this kind of interference
must be proposed. Therefore, an alternative method was recommended resulting in a new free peak for the
determination Se(IV) (Figures1e-f). Since the complex formation of Se(IV) with aromatic diamines is well
known10,13, the new peak must belong to the Se(IV)/o-PDA complex. On the other hand, the scope of thi

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

เนื่องจากการรบกวนนี้ ระมัดในการซีลีเนียมกำหนดฟีสมรรถภาพและไอออนดังกล่าวเมื่อพวกเขาพบในการแก้ปัญหาเดียวกัน ในคำอื่น ๆ โดยไม่ต้องพิจารณานี้ชนิดรบกวน วิเคราะห์ปริมาณ electroanalytical มากที่สุดในการแก้ปัญหาที่ประกอบด้วยทั้ง Se(IV) และอย่างน้อยหนึ่งของไอออนเหล่านี้จะไม่ถูกต้อง ของเราก่อนหน้านี้ทำงาน 1, 2 วิธีการนำเสนอสำหรับการกำหนดของซีลีเนียมในต้องแปลงทั้งซีลีเนียม intermetallic ฟอร์ม โดยเพิ่มส่วนเกินของไอออนโลหะที่รบกวนของไอออนรบกวนอย่างใดอย่างหนึ่ง และความต้องการดังนั้น กระบวนการทางอ้อมในเสริมไอออนในตัวอย่างนี้นอกจากนี้ เมื่อซีลีเนียมและไอออนรบกวนมากกว่าหนึ่งที่พบในสื่อเดียวกัน (PbSe, CdSeและ SnSe intermetallic ยอดที่เกี่ยวกับศักยภาพเดียว) วิธีอื่นสำหรับสัญญาณรบกวนชนิดนี้ต้องถูกนำเสนอ ดังนั้น วิธีการสำรองแนะนำสูงสุดฟรีใหม่สำหรับผลการวัด Se(IV) (Figures1e f) เนื่องจากการก่อตัวที่ซับซ้อนของ Se(IV) กับ diamines หอมดีknown10, 13 จุดสูงสุดใหม่ต้องอยู่กับ Se (IV) / คอมเพล็กซ์ o-PDA ในทางกลับกัน ขอบเขตที

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

เพราะการแทรกแซงนี้จะต้องระมัดระวังในการกำหนดโพลาโรกราฟิกของซีลีเนียม
และกล่าวถึงไอออนเมื่อพวกเขาถูกพบในการแก้ปัญหาเดียวกัน ในคำอื่น ๆ โดยไม่คำนึงถึงชนิด
ของการรบกวนการพิจารณา electroanalytical มากที่สุดในการแก้ปัญหาที่มีทั้ง Se (IV) และอย่างน้อยหนึ่ง
ของไอออนเหล่านี้จะผิด ในการทำงานของเราก่อนหน้า 1,2, วิธีการที่นำเสนอสำหรับการกำหนดของซีลีเนียมใน
การปรากฏตัวของโลหะไอออนรบกวนความต้องการที่จะแปลงซีลีเนียมทั้งหมดไปยังรูปแบบ intermetallic โดยการเพิ่มส่วนเกิน
ของหนึ่งในไอออนรบกวนและดังนั้นจึงต้องมีขั้นตอนที่เกิดขึ้นในทางอ้อมพิเศษ -ions ในตัวอย่าง.
นอกจากนี้เมื่อซีลีเนียมและมากกว่าหนึ่งรบกวนไอออนที่พบในสื่อเดียวกัน (PbSe, CdSe
และ SnSe ยอด intermetallic อยู่ที่เกี่ยวกับศักยภาพเดียวกัน) วิธีการสำหรับชนิดของการรบกวนนี้ก็
จะต้องเสนอ ดังนั้นวิธีการอื่นได้แนะนำผลในจุดสูงสุดใหม่ฟรีสำหรับ
ความมุ่งมั่น Se (iv) (Figures1e-F) ตั้งแต่การสร้างที่ซับซ้อนของ Se (iv) กับ Diamines หอมเป็นอย่างดี
known10,13 ยอดใหม่จะต้องเป็นสมาชิกของ Se (IV) / O-PDA ซับซ้อน บนมืออื่น ๆ , ขอบเขตของ Thi

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เพราะการแทรกแซงนี้จะต้องระมัดระวังในการตัดสินใจของโพลาโรกราฟฟี่ของซีลีเนียมและกล่าวถึงไอออนเมื่อพวกเขาถูกพบในวิธีเดียวกัน ในคำอื่น ๆโดยไม่พิจารณาชนิดนี้ของสัญญาณรบกวน ใช้ electroanalytical ที่สุดในโซลูชั่นที่ประกอบด้วยทั้งเซ ( IV ) และอย่างน้อยหนึ่งไอออนเหล่านี้จะไม่ถูกต้อง ในการทำงานของเราก่อนหน้านี้ที่ 1 , 2 , วิธีการหาปริมาณซีลีเนียมในมีความต้องการที่จะแปลงทั้งหมดรบกวนไอออนโลหะเซเลเนียมในรูปแบบชนิด โดยการเพิ่มส่วนเกินของไอออนจึงต้องรบกวนและโดยอ้อมส่งผลให้เพิ่มขั้นตอนไอออนในตัวอย่างนอกจากนี้ เมื่อซีลีเนียมและมากกว่าหนึ่งรบกวนไอออนที่พบในตัวกลางเดียวกัน ( pbse cdse ,snse ชนิดและยอดอยู่ที่ประมาณศักยภาพเหมือนกัน ) อีกวิธีสำหรับชนิดของการแทรกแซงจะต้องเสนอ ดังนั้น วิธีนี้ส่งผลให้ยอดใหม่ฟรีสำหรับการหาเซ ( 4 ) ( figures1e-f ) เนื่องจากเกิดสารประกอบเชิงซ้อนของ SE ( IV ) กับ diamines หอมดีknown10,13 , สูงสุดใหม่ต้องเป็นของเซ ( 4 ) / o-pda ซับซ้อน บนมืออื่น ๆ , ขอบเขตของรัชกาลที่