Numerical ellipsometry: Examination

Numerical ellipsometry: Examination of growing nickel and rhenium
thin films using n–k plane analysis and effective numerical substrates

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ตัวเลข ellipsometry: ตรวจสอบเติบโตนิกเกิลและรีเนียมฟิล์มบางที่ใช้วิเคราะห์เครื่องบิน n-k และตัวเลขได้อย่างมีประสิทธิภาพ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ตัวเลข ellipsometry: การตรวจสอบของการเจริญเติบโตและนิกเกิลรีเนียม
ฟิล์มบางโดยใช้การวิเคราะห์เครื่องบิน n-k และมีประสิทธิภาพในพื้นผิวที่เป็นตัวเลข

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ลิปโซมิตรีผล : การเติบโตของนิกเกิลและฟิล์มบางโดยใช้การวิเคราะห์รีเนียม
n k เครื่องบิน–และพื้นผิวเชิงตัวเลขที่มีประสิทธิภาพ