Scanningelectron microscopy images

Scanning
electron microscopy images show that the grain size becomes larger by increasing annealing temperature
and this result agrees with the X-ray diffraction analysis.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การสแกนภาพ microscopy อิเล็กตรอนแสดงว่า เมล็ดขนาดจะใหญ่กว่า โดยการเพิ่มอุณหภูมิหลอมและผลนี้ตกลงกับวิเคราะห์เอกซเรย์การเลี้ยวเบน

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

สแกนภาพกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแสดงให้เห็นว่าขนาดของเมล็ดข้าวจะกลายเป็นขนาดใหญ่โดยการหลอมอุณหภูมิที่เพิ่มขึ้นและผลนี้เห็นด้วยกับการวิเคราะห์การเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การสแกนภาพกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนชนิดส่องกราดพบว่า
เกรนจะมีขนาดใหญ่ขึ้น โดยการเพิ่มอุณหภูมิการอบอ่อน
และผลนี้เห็นด้วยกับการเลี้ยวเบนของรังสีเอกซ์ในการวิเคราะห์