Numerical ellipsometry: Examination

Numerical ellipsometry: Examination of growing nickel and rhenium thin films using n–k plane analysis and effective numerical substrates

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ตัวเลข ellipsometry: สอบของนิกเกิลและรีเนียมบางฟิล์มใช้วิเคราะห์เครื่องบิน n-k และได้ผลเป็นตัวเลขการเจริญเติบโต

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ตัวเลข ellipsometry: การตรวจสอบของการเจริญเติบโตและนิกเกิลฟิล์มบางรีเนียมโดยใช้การวิเคราะห์เครื่องบิน n-k และมีประสิทธิภาพในพื้นผิวที่เป็นตัวเลข

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ลิปโซมิตรีผล : การปลูกฟิล์มบางโดยใช้นิกเกิลและธาตุเรเนียม ( K ) และการวิเคราะห์เชิงตัวเลขที่มีประสิทธิภาพสูงเครื่อง