Berendes and collaborators [20] rep

Berendes and collaborators [20] reported
the first use of XRF to produce micro-images of the Pb, Ba and Sb
elements in GSR produced from conventional ammunition and from
clean range ammunition (Ti, Cu and Zn). Despite the XRF technique
being multi-elementary, selective, non-destructive, rapid and inexpensive,
its main disadvantage is its low sensitivity (generally μg g−1),
which can lead to false negative results [2]

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

Berendes และทำงานร่วมกัน [20] รายงาน
ครั้งแรกที่ใช้ XRF เพื่อผลิตภาพ micro-Pb, Ba และ Sb
องค์ประกอบใน GSR ผลิตจากกระสุนธรรมดาและจาก
กระสุนช่วงสะอาด (Ti, Cu และ Zn) แม้จะมีเทคนิค XRF
เป็นหลายประถมเลือกไม่ทำลายอย่างรวดเร็วและราคาไม่แพง,
ข้อเสียเปรียบหลักของมันคือความไวต่ำ (โดยทั่วไปไมโครกรัมต่อกรัม-1)
ซึ่งจะนำไปสู่ผลลบปลอม [2]

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

berendes และผู้ร่วมงาน [ 20 ] รายงาน
ครั้งแรกที่ใช้ XRF ผลิตไมโครภาพ PB , Ba และองค์ประกอบ SB
ในเขม่าปืนที่ผลิตจากกระสุนธรรมดาและจาก
ทำความสะอาดช่วงกระสุน ( Ti , Cu และ Zn ) แม้จะมีเทคนิค XRF
เป็นหลายระดับ , การเลือก , แบบไม่ทำลาย , อย่างรวดเร็วและราคาไม่แพง
ข้อเสียหลักคือความไวต่ำ ( โดยทั่วไปμ G G − 1 ) ,
ซึ่งสามารถนำมาลบปลอมผล [ 2 ]