indicated, such as the peak value o

indicated, such as the peak value of the measured LI/SI test voltage, the front and
tail time and occasionally the chopping time.
Basically, the measuring uncertainty is affected by both the hardware and the
software. Due to the comparatively high quantization rate of nowadays available
digital recorders, which is usually 14 bits and even more, as well as the high
sampling rate of 100 MS/s and above, the contribution of the hardware to the
measuring uncertainty is much lower than that of voltage dividers. As the quantization
error is given by 50 % of the least significant bit (LSB), this is approx.
0.012 % for a slow-rising signal for a quantization rate of 14 bit. However, the
deviation from the true value becomes much higher if a front-chopped LI voltage
according to Fig. 7.58 is measured using a sample rate of 100 MS/s. This is
because the voltage difference .d Vs between each sample is inversely proportional
to the sampling rate fs· For an assumed chopping time Tc= 0.5 μs and crest
voltage Ve, the voltage difference between each sample can be approximated by
Vs= Ve/(Tc ·ls)= Ve/50 = 0.02 ·Ve. Thus, the maximum deviation of the
measured value from the true value, which is given by 0.5 LSB, becomes 1 % of
the crest value Ve. Generally, it has to be taken care that the classical Shannon
theorem is accomplished, i.e. the sampling rate should exceed twice the maximum
frequency content of the signal to be measured where the analogue bandwidth

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ระบุ เช่นค่าสูงสุดของการวัด LI/ศรี ทดสอบแรงดัน ด้านหน้า และเวลาหางและบางครั้งเวลา choppingโดยทั่วไป ความไม่แน่นอนวัดได้รับผลกระทบ ด้วยทั้งฮาร์ดแวร์และซอฟต์แวร์ เนื่องจากอัตรา quantization สูงดีอย่างหนึ่งของปัจจุบันเครื่องอัดดิจิตอล ซึ่งมักจะ 14 บิตและยิ่ง และสูงสุ่มตัวอย่างคะแนน 100 MS s และ เหนือ สัดส่วนของฮาร์ดแวร์เพื่อการการวัดความไม่แน่นอนถูกมากต่ำกว่าที่แบ่งแรงดัน เป็นการ quantizationข้อผิดพลาดจะได้รับ 50% ของบิตสำคัญน้อยที่สุด (LSB) โดยประมาณ0.012% สำหรับสัญญาณเพิ่มขึ้นช้าในอัตรา quantization 14 บิต อย่างไรก็ตาม การความเบี่ยงเบนจากค่าจริงจะสูงถ้า LI แรงสับหน้าตาม Fig. 7.58 ถูกวัดโดยใช้อัตราตัวอย่าง 100 MS s นี่คือเพราะ.d ผลต่างแรงดัน Vs ระหว่างแต่ละอย่างเป็นสัดส่วน inverselyการ fs· อัตราการสุ่มตัวอย่าง สำหรับการโป๊ปลอมเวลา Tc = 0.5 μs และหงอนแรงดัน Ve แรงดันแตกต่างระหว่างแต่ละตัวอย่างสามารถหาค่าประมาณโดยVs = Ve /(Tc ·ls) = Ve/50 = 0.02 · โทร ดังนั้น การเบี่ยงเบนสูงสุดของการค่าที่วัดจากค่าจริง ซึ่งถูกกำหนด โดย 0.5 LSB กลายเป็น 1% ของยอดค่า Ve โดยทั่วไปแล้ว มันยังต้องมาดูแลที่แชนนอนคลาสสิกทฤษฎีบทสำเร็จ เช่นอัตราการสุ่มตัวอย่างควรเกินสูงสุดสองครั้งเนื้อหาความถี่ของสัญญาณที่จะวัดซึ่งแบนด์วิดธ์อนาล็อก

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ระบุเช่นค่าสูงสุดของวัด LI / SI การทดสอบแรงดัน,
ด้านหน้าและเวลาที่หางและบางครั้งเวลาสับ. โดยทั่วไปความไม่แน่นอนของการวัดที่ได้รับผลกระทบจากทั้งฮาร์ดแวร์และซอฟแวร์ เนื่องจากอัตรา quantization สูงเมื่อเทียบกับของที่มีอยู่ในปัจจุบันบันทึกดิจิตอลซึ่งมักจะ14 บิตและมากยิ่งขึ้นเช่นเดียวกับที่สูงอัตราการสุ่มตัวอย่าง100 MS / s และสูงกว่าผลงานของฮาร์ดแวร์ไปที่ความไม่แน่นอนของการวัดที่ต่ำกว่าที่วงเวียนแรงดันไฟฟ้า ในฐานะที่เป็นควอนข้อผิดพลาดจะได้รับโดย 50% ของบิตอย่างน้อยอย่างมีนัยสำคัญ (LSB) นี้ประมาณ. 0.012% สัญญาณช้าที่เพิ่มขึ้นสำหรับอัตรา quantization 14 บิต อย่างไรก็ตามการเบี่ยงเบนจากค่าที่แท้จริงจะกลายเป็นมากขึ้นถ้าแรงดัน LI หน้าสับตามรูป 7.58 วัดโดยใช้อัตราตัวอย่าง 100 MS / s นี้เป็นเพราะความแตกต่างของแรงดันไฟฟ้า .d Vs ระหว่างแต่ละตัวอย่างเป็นสัดส่วนผกผันกับอัตราการสุ่มตัวอย่างFS ·สำหรับเวลาสับ Tc สันนิษฐาน = 0.5 ไมโครวินาทีและยอดแรงดันไฟฟ้าVe ความแตกต่างแรงดันไฟฟ้าระหว่างกลุ่มตัวอย่างแต่ละคนสามารถห้วงVs = Ve / ( Tc ·คำสั่ง ls) = Ve / 50 = 0.02 · Ve ดังนั้นการเบี่ยงเบนสูงสุดของค่าที่วัดได้จากมูลค่าที่แท้จริงซึ่งจะได้รับ 0.5 LSB กลายเป็น 1% ของมูลค่ายอดVe โดยทั่วไปจะมีการได้รับการดูแลที่คลาสสิกแชนนอนทฤษฎีบทจะประสบความสำเร็จเช่นอัตราการสุ่มตัวอย่างควรเกินสองครั้งสูงสุดเนื้อหาความถี่ของสัญญาณที่จะวัดที่แบนด์วิดธ์แบบอะนาล็อก

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

พบ เช่น ยอดค่าของหลี่ / ศรีวัดแรงดันทดสอบ ด้านหน้า
เวลาหางและบางครั้งตัด .
โดยทั่วไปการวัดความไม่แน่นอนนั้นได้รับผลกระทบจากทั้งฮาร์ดแวร์และซอฟต์แวร์
. จากการเปรียบเทียบอัตราสูง quantization ทุกวันนี้ใช้ได้
Digital Recorders , ซึ่งโดยปกติจะเป็น 14 บิต และมากขึ้นรวมทั้งสูง
อัตราการสุ่มตัวอย่าง 100 Ms / s ขึ้นไปบริจาคของฮาร์ดแวร์
การวัดความไม่แน่นอนมากต่ำกว่าที่ของแรงดันไฟฟ้าวงเวียน . ขณะที่ quantization
ข้อผิดพลาดให้โดย 50% ของบิตอย่างน้อยอย่างมีนัยสำคัญ ( LSB ) นี้คือประมาณ
0.012 % ช้าเพิ่มขึ้นสัญญาณสำหรับ quantization อัตรา 14 บิต อย่างไรก็ตาม
การเบี่ยงเบนจากค่าจริงจะสูงมากถ้าหน้าสับ
แรงดันหลี่ตามรูปที่ 7.58 คือการวัดโดยใช้อัตราตัวอย่าง 100 Ms / s นี่
เพราะแรงดันต่างกัน D VS ระหว่างแต่ละตัวอย่างจะแปรผกผันกับอัตราการสุ่มตัวอย่าง FS
Suite สำหรับถือว่าตัด TC = 0.5 μ S และ ยอด
แรงดัน VE แรงดันไฟฟ้าที่แตกต่างระหว่างแต่ละตัวอย่างสามารถคำนวณโดย
VS = ได้ / ( TC ด้วย LS ) = ได้ / 50 = 0.02 ด้วยได้ ดังนั้น การเบี่ยงเบนสูงสุดของการวัดค่า
จากมูลค่าที่แท้จริง ซึ่งจะได้รับ 0.5 LSB จะ 1%
มูลค่ายอดได้ โดยทั่วไปแล้ว ก็ต้องดูแลว่าแชนน่อน
ทฤษฎีบทคลาสสิกได้ เช่น อัตราการสุ่มตัวอย่างควรเกินสองเท่าของความถี่สูงสุดของสัญญาณ
เนื้อหาที่จะวัดที่คล้ายกันแบนด์วิดธ์