to empty the FD from electrons. The

to empty the FD from electrons. The column-level amplifier
auto-zero (AZ) is performed in order to reset the feadback
capacitance, cancel the offset and reduce its low frequency
noise [9]. The floating diffusion voltage reset level is sampled
at the output of the column-level amplifier. The transfer gate is
then switched-on in order to transfer the accumulated photoelectrons
to the floating diffusion. The voltage level after
this operation is again sampled at the output of the columnlevel
amplifier and differentiated with the reset level voltage.
In some low noise CIS the SF transistor is replaced by a gain
stage like a common-source [1] or transimpedance amplifiers
(CTIAs). It has been shown in a previous work [10] that a readout
chain based on in-pixel gain does not necessarily introduce
a lower noise compared to a readout chain with an in-pixel
source follower scheme and column-level amplification.
The CIS readout chain noise mechanisms are depicted in the
timing diagram of Fig. 1. It shows two types of noise. The first
is the sampled noise constant in time during one readout of
the pixel and randomly changing at the next readout and from
pixel to pixel. It includes the noise sampled at the sense node
after its reset (mainly kTC noise) and the noise sampled at
the integration capacitor and transferred to the output after the
colum-level amplifier AZ [11]. This sampled noise originates
from the thermal and low frequency noise of the SF stage
and the column-level amplifier before opening the AZ switch.
The second type of noise is the random fluctuation of the
signal during the readout originating from the SF stage and
the column-level amplifier after opening the AZ switch. All
these noise sources are uncorrelated and add to each other at
the output of the readout chain.
The double sampling and differentiation (CDS or CMS)
performed at the output of the CIS readout chain has two
main advantages regarding its noise performance. The first one
consists in the cancellation of the sampled noise. The second
one consists in the reduction of the 1/ f noise of the SF stage
and column-level amplifier. After the double sampling, the
dominant noise source is the random fluctuation originating
from the thermal, 1/ f and random telegraph signal (RTS)
noise of the readout chain transistors. RTS noise is a severe
problem that especially appears in small sized transistors like
the in-pixel SF. But for current CIS processes, it only appears
in a minority of pixels.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

เมื่อต้องการล้าง FD จากอิเล็กตรอน แอมพลิฟายเออร์ระดับคอลัมน์ดำเนินการเพื่อ feadback การตั้งค่าเป็นศูนย์อัตโนมัติ (AZ)จุ ยกเลิกบัญชีตรงข้าม และลดความถี่ต่ำเสียง [9] ระดับตั้งค่าแรงดันไฟฟ้ากระจายลอยเป็นตัวอย่างผลลัพธ์ของแอมพลิฟายเออร์ระดับคอลัมน์ ประตูถ่ายโอนswitched-on แล้วเพื่อถ่ายโอน photoelectrons สะสมการกระจายลอยตัว ระดับแรงดันไฟฟ้าหลังการดำเนินการนี้เป็นอีกตัวอย่างผลลัพธ์ของการ columnlevelแอมพลิฟายเออร์ และมีแรงดันไฟฟ้าระดับใหม่ในบางรบกวน CIS ทรานซิสเตอร์ SF ถูกแทนที่ โดยมีกำไรขั้นตอนทั่วไปแหล่งที่มา [1] หรือแอมพลิฟายเออร์ transimpedance(CTIAs) มันแสดงในทำงานก่อนหน้านี้ [10] ซึ่งเป็นการอ่านโซ่ที่อิงพิกเซลกำไรไม่จำเป็นต้องแนะนำเสียงต่ำเมื่อเทียบกับโซ่อ่าน มีในเซลแหล่งผู้ติดตามแผนและขยายระดับคอลัมน์อธิบาย CIS อ่านโซ่รบกวนกลไกในการไทม์มิ่งไดอะแกรมของรูปที่ 1 แสดงสองชนิดของเสียงรบกวน ครั้งแรกเป็นค่าคงตัวอย่างเสียงในเวลาระหว่างหนึ่งอ่านพิกเซลและการเปลี่ยนแปลงแบบสุ่ม ที่อ่านต่อไป และจากพิกเซลกับพิกเซล มีเสียงการลิ้มลองที่โหนรู้สึกหลังจากลิ้มลองของใหม่ (ส่วนใหญ่เสียง kTC) และเสียงที่ตัวเก็บประจุรวมโอนกับผลลัพธ์หลังจากการเครื่องขยายเสียงระดับ colum AZ [11] ต้นกำเนิดเสียงตัวอย่างนี้จากความร้อนและเสียงรบกวนความถี่ต่ำของขั้น SFและแอมพลิฟายเออร์ระดับคอลัมน์ก่อนที่จะเปิดสวิตช์ AZประเภทของเสียงที่สองคือ ความผันผวนสุ่มของการสัญญาณระหว่างอ่านออกมาจากด่าน SF และแอมพลิฟายเออร์ระดับคอลัมน์หลังจากเปิดสวิตช์ AZ ทั้งหมดแหล่งสัญญาณรบกวนเหล่านี้คือ uncorrelated และเพิ่มกันที่การแสดงผลของการอ่านการสุ่มตัวอย่างและความแตกต่าง (ซีดีหรือ CMS) คู่ดำเนินการผลลัพธ์ของ CIS อ่านโซ่มีสองข้อดีหลักเกี่ยวกับการทำงานของสัญญาณรบกวน อันแรกประกอบด้วยเสียงตัวอย่างการยกเลิก ครั้งที่สองหนึ่งประกอบด้วยในการลด 1 / f เสียงของเวที SFและแอมพลิฟายเออร์ระดับคอลัมน์ หลังจากสุ่มตัวอย่างที่สอง การแหล่งเสียงที่โดดเด่นคือ ความผันผวนสุ่มเกิดจากความร้อน 1 / f และโทรเลขสุ่มสัญญาณ (RTS)สัญญาณรบกวนของทรานซิสเตอร์โซ่อ่าน เสียง RTS เป็นความรุนแรงปัญหาที่ปรากฏเฉพาะในทรานซิสเตอร์ขนาดเล็กเช่นSF พิกเซล แต่สำหรับกระบวนการ CIS ปัจจุบัน เฉพาะปรากฏในชนกลุ่มน้อยของพิกเซล

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ที่จะว่าง FD จากอิเล็กตรอน เครื่องขยายเสียงคอลัมน์ระดับ
ออโต้เป็นศูนย์ (แอริโซนา) จะดำเนินการในการสั่งซื้อเพื่อรีเซ็ต feadback
ความจุยกเลิกการชดเชยและลดความถี่ต่ำ
เสียง [9] ระดับแรงดันไฟฟ้ารีเซ็ตการแพร่กระจายลอยเป็นตัวอย่าง
ที่การส่งออกของเครื่องขยายเสียงคอลัมน์ระดับ ประตูโอน
เปลี่ยนบนแล้วเพื่อที่จะโอน photoelectrons สะสม
เพื่อการแพร่ลอย ระดับแรงดันไฟฟ้าหลังจาก
การดำเนินการนี้เป็นตัวอย่างอีกครั้งที่การส่งออกของ columnlevel ที่
เครื่องขยายเสียงและความแตกต่างที่มีแรงดันไฟฟ้าระดับรีเซ็ต.
ในบางเสียงต่ำ CIS ทรานซิสเตอร์เอสเอฟจะถูกแทนที่ด้วยกำไร
ขั้นตอนเหมือนกันที่มา [1] หรือแอมป์ต้านทาน
( CTIAs) มันแสดงให้เห็นในการทำงานก่อนหน้า [10] ว่าการอ่าน
ห่วงโซ่อยู่บนพื้นฐานในพิกเซลกำไรไม่จำเป็นต้องแนะนำ
เสียงที่ต่ำกว่าเมื่อเทียบกับห่วงโซ่การอ่านข้อมูลที่มีในพิกเซล
โครงการแหล่งที่มาติดตามและคอลัมน์ระดับการขยาย.
หน้าปัด CIS กลไกห่วงโซ่เสียงเป็นภาพใน
แผนภาพระยะเวลาของรูป 1. มันแสดงให้เห็นทั้งสองประเภทของเสียง ครั้งแรก
เป็นเสียงตัวอย่างต่อเนื่องในช่วงเวลาหนึ่งในการอ่านข้อมูลของ
พิกเซลและสุ่มเปลี่ยนที่มิเตอร์ที่อ่านได้ต่อไปและจาก
พิกเซลเพื่อพิกเซล ซึ่งจะรวมถึงเสียงตัวอย่างที่รู้สึกโหนด
หลังจากรีเซ็ต (เสียงส่วนใหญ่เคทีซี) และเสียงตัวอย่างที่
เก็บประจุบูรณาการและโอนไปยังการส่งออกหลังจากที่
แอมป์โคลั่มระดับ AZ [11] เสียงตัวอย่างนี้มีต้นกำเนิดมา
จากเสียงความถี่ความร้อนและต่ำของขั้นตอนที่เอสเอฟ
และแอมป์คอลัมน์ระดับก่อนที่จะเปิดสวิทช์ AZ.
ประเภทที่สองของเสียงเป็นความผันผวนสุ่มของ
สัญญาณในระหว่างการอ่านข้อมูลที่เกิดจากขั้นตอนที่เอสเอฟและ
คอลัมน์ เครื่องขยายเสียงระดับพื้นดินหลังจากเปิดสวิทช์อาริโซน่า ทั้งหมด
เหล่านี้เป็นแหล่งกำเนิดเสียง uncorrelated และเพิ่มกันและกันใน
การส่งออกของห่วงโซ่มิเตอร์ที่อ่านได้.
กลุ่มตัวอย่างคู่และความแตกต่าง (CDS หรือ CMS)
ดำเนินการในการส่งออกของห่วงโซ่ CIS มิเตอร์ที่อ่านได้ทั้งสอง
ข้อได้เปรียบหลักเกี่ยวกับประสิทธิภาพเสียงของมัน คนแรก
ประกอบด้วยในการยกเลิกการเก็บตัวอย่างเสียงที่ ที่สอง
หนึ่งประกอบด้วยในการลดเสียงรบกวน 1 / F ของ SF เวที
และคอลัมน์ระดับเครื่องขยายเสียง หลังจากที่การสุ่มตัวอย่างคู่
มาของเสียงรบกวนที่โดดเด่นคือความผันผวนสุ่มมีต้นกำเนิดมา
จากความร้อน 1 / F และสัญญาณโทรเลขแบบสุ่ม (RTS)
เสียงทรานซิสเตอร์ห่วงโซ่การอ่านข้อมูล RTS เสียงเป็นรุนแรง
ปัญหาที่โดยเฉพาะอย่างยิ่งปรากฏในทรานซิสเตอร์ขนาดเล็ก ๆ เช่น
ในพิกเซลเอสเอฟ แต่สำหรับกระบวนการ CIS ปัจจุบันก็จะปรากฏเฉพาะ
ในชนกลุ่มน้อยของพิกเซล

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ว่าง FD จากอิเล็กตรอน ระดับคอลัมน์เครื่องขยายเสียงศูนย์รถยนต์ ( AZ ) จะดำเนินการในการตั้งค่า feadbackความจุ , ยกเลิกชดเชยและลดของความถี่ต่ำเสียง [ 9 ] ลอยกระจายแรงดันตั้งค่าระดับคือตัวอย่างที่เอาท์พุทของระดับคอลัมน์เครื่องขยายเสียง ประตูในการโอนแล้วเปิดเพื่อการสะสมโฟโต้อิเลคตรไปลอยแพร่ แรงดันไฟฟ้าระดับหลังงานนี้เป็นอีกตัวอย่างที่เอาต์พุตของ columnlevelเครื่องขยายเสียงและแตกต่างกับการตั้งค่าระดับแรงดันมีสัญญาณรบกวนต่ำ CIS SF ทรานซิสเตอร์จะถูกแทนที่ด้วยผลประโยชน์เวทีแหล่ง [ 1 ] หรือ transimpedance แอมป์ทั่วไป( ctias ) มันได้ถูกแสดงใน [ 10 ] งานก่อนหน้าที่การอ่านข้อมูลโซ่ที่ยึดในพิกเซลได้ ไม่จําเป็นต้องแนะนำเสียงต่ำเมื่อเทียบกับโซ่บนที่มีในพิกเซลโครงการตามแหล่งและขยายระดับคอลัมน์CIS บนโซ่ เสียงกลไกในภาพTiming Diagram ของรูปที่ 1 มันแสดงให้เห็นสองประเภทเสียง ครั้งแรกมีตัวอย่างเสียงคงที่ในเวลาช่วงหนึ่งของการอ่านข้อมูลพิกเซลแบบเปลี่ยนที่รุกต่อไป และจากพิกเซลต่อพิกเซล ซึ่งจะรวมถึงเสียงตัวอย่างที่ความรู้สึกปมหลังจากการตั้งค่า ( เสียงส่วนใหญ่เคทีซี ) และเสียงตัวอย่างที่รวมค่าโอนและออกหลังเครื่องขยายเสียงระดับคอ AZ [ 11 ] ตัวอย่างนี้มีเสียงจากความร้อนและเสียงรบกวนความถี่ต่ำของ SF เวทีและระดับคอลัมน์เครื่องขยายเสียงก่อนเปิดสวิตช์ AZประเภทที่สองคือการเปลี่ยนแปลงแบบสุ่มเสียงของสัญญาณในการอ่านข้อมูลที่มาจาก SF และ เวทีระดับคอลัมน์เครื่องขยายเสียงหลังจากเปิดสวิตช์ AZ ทั้งหมดแหล่งเสียงเหล่านี้จะ uncorrelated และเพิ่มให้กับแต่ละอื่น ๆที่ผลของการอ่านข้อมูลห่วงโซ่คู่ ) และความแตกต่าง ( ซีดีหรือ CMS )ทำที่ของ CIS บนโซ่มีสองประโยชน์หลักเกี่ยวกับประสิทธิภาพเสียงของ คนแรกประกอบด้วยในการยกเลิกของตัวอย่างเสียง สองหนึ่งประกอบด้วยในการลดลงของ 1 / F เสียง SF ของเวทีและเครื่องขยายเสียงระดับคอลัมน์ หลังจากคู่ตัวอย่างที่แหล่งกำเนิดเสียงเด่น คือ ความผันผวนที่เกิดขึ้นแบบสุ่มจากความร้อน 1 / F และส่งสัญญาณโทรเลขแบบสุ่ม ( RTS )เสียงโซ่บนทรานซิสเตอร์ RTS เสียงเป็นรุนแรงโดยเฉพาะปัญหาที่ปรากฏในทรานซิสเตอร์ขนาดเล็ก เช่นในพิกเซล SF . แต่สำหรับกระบวนการ CIS ปัจจุบันก็ปรากฏในชนกลุ่มน้อยของพิกเซล