Transmission electron microscopy (TEM) and Scanning TEM
(STEM) are extremely powerful techniques to characterise
nanomaterials due to the high spatial resolution, the ability
to determine internal and 3D structures and the possibility
to obtain elemental information through the use of energy
dispersive X-ray spectroscopy (EDS) and electron energy loss
spectroscopy (EELS). Due to the high vacuum requirement
of the microscope column, nanoparticles are not typically
imaged under environmental conditions (Goodhew et al.,
2001; Williams and Carter, 1996). For example, nanoparticles
in solution are typically imaged through one of the two
techniques (a) dehydration onto a TEM grid (dry state TEM)
or (b) vitrification of thin films of solution on a TEM grid
(cryo-TEM) (Patterson et al., 2014; Friedrich et al., 2010;
Cui et al., 2007; Talmon, 1983).
ส่งกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนส่องผ่าน ( TEM ) และสแกน
( ต้น ) เป็นเทคนิคที่มีประสิทธิภาพมากเพื่อนักศึกษา
nanomaterials เนื่องจากความละเอียดเชิงพื้นที่สูง ความสามารถในการตรวจสอบภายในและโครงสร้าง 3 มิติ
และเป็นไปได้เพื่อให้ได้ข้อมูลธาตุที่ผ่านการใช้รังสีเอกซ์พลังงานกระจายตัวสเปกโทรสโกปี ( EDS ) และสเปกโทรสโกปี
( สูญเสียอิเล็กตรอนพลังงานปลาไหล )เนื่องจากความต้องการสูงดูด
ของกล้องจุลทรรศน์คอลัมน์ อนุภาคนาโนจะไม่ปกติ
อื่นๆภายใต้สภาวะแวดล้อม ( กู๊ดยู et al . ,
2001 วิลเลียมส์และคาร์เตอร์ , 1996 ) ตัวอย่างเช่นอนุภาคในสารละลายโดยทั่วไปอื่นๆ
ผ่านหนึ่งในสองเทคนิค ( ) การลงตาราง ( แบบเต็มๆ สภาพแห้ง )
8 หรือ ( ข ) ของฟิล์มบางของสารละลายในราง
เต็มๆ( แบบแช่แข็ง ) ( Patterson et al . , 2014 ; ฟรีดริช et al . , 2010 ;
j et al . , 2007 ; ทัลโมน , 1983 )
การแปล กรุณารอสักครู่..