The plane-view TEM specimens from l

The plane-view TEM specimens from layers at various depths were obtained by grinding, polishing and final ion milling. transmission electron microscope with an operating voltage of 200 kV.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ตัวอย่างยการบินมองจากชั้นลึกต่าง ๆ ได้รับ โดยบด ขัด และสีสุดท้ายไอออน กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนส่งการไฟฟ้า 200 kV

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ตัวอย่างเครื่องบินมุมมอง TEM จากชั้นที่ระดับความลึกต่าง ๆ ที่ได้จากการเจียรขัดและกัดไอออนสุดท้าย กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนที่มีการส่งผ่านแรงดันไฟฟ้าปฏิบัติการ 200 กิโลโวลต์

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เครื่องบินดูแบบตัวอย่างจากเลเยอร์ที่ความลึกต่างๆ ที่ได้จากการบดขัดและไอออน กัด สุดท้าย กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่านกับงานแรงดัน 200 KV .