When an electron beam of sufficient

When an electron beam of sufficient energy interacts with a sample target it generates X-rays, as well as derivative electrons (e.g. secondary, back-scattered, auger). A wavelength-dispersive spectrometer uses the characteristic X-rays generated by individual elements to enable quantitative analyses (down to trace element levels) to be measured at spot sizes as small as a few micrometers. WDS can also be used to create element X-ray compositional maps over a broader area by means of rastering the beam. Together, these capabilities provide fundamental quantitative compositional information for a wide variety of solid materials. This technique is complementary to energy-dispersive spectroscopy (EDS) in that WDS spectrometers have significantly higher spectral resolution and enhanced quantitative potential. Many SEM and EPMA instruments have EDS systems mounted to the column, and an EPMA typically has an array of several WDS spectrometers for simultaneous measurement of multiple elements. In typical EPMA applications, EDS is used for quick elemental scans to find out what a material contains, and WDS is then used to acquire precise chemical analyses of selected phases.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

เมื่อลำแสงอิเล็กตรอนพลังงานพอโต้ตอบกับเป้าหมายตัวอย่างการ สร้างรังสีเอกซ์ ตลอดจนตราสารอนุพันธ์อิเล็กตรอน (เช่นรอง หลัง กระจาย ชอน) สเปกโตรมิเตอร์ที่ความยาวคลื่น dispersive ใช้ลักษณะรังสีเอกซ์ที่สร้างขึ้น โดยแต่ละองค์ประกอบเพื่อให้วิเคราะห์เชิงปริมาณ (ลงไปที่ระดับจุลธาตุ) จะวัดที่ขนาดเล็กเป็นคัลไมโครมิเตอร์แบบกี่จุด นอกจากนี้ยังสามารถใช้ WDS เพื่อสร้างองค์ประกอบที่เอกซเรย์ compositional แผนที่ผ่านพื้นที่กว้างขึ้นโดยใช้ rastering คาน ร่วมกัน ความสามารถเหล่านี้มีพื้นฐานข้อมูล compositional เชิงปริมาณสำหรับความหลากหลายของวัสดุแข็ง เทคนิคนี้จะเสริมเพื่อกพลังงาน dispersive (EDS) ที่ตรวจ WDS มีสเปกตรัมความสูงอย่างมีนัยสำคัญและศักยภาพขั้นสูงเชิงปริมาณ เครื่อง SEM และ EPMA มากมีระบบ EDS ที่ติดในคอลัมน์ และ EPMA มีอาร์เรย์ของตรวจ WDS หลายสำหรับวัดพร้อมกันหลายองค์ประกอบโดยทั่วไป ในการใช้งานปกติ EPMA, EDS ใช้สำหรับสแกนด่วนธาตุเพื่อหาวัสดุประกอบด้วย และ WDS นั้นถูกใช้เพื่อรับการวิเคราะห์ทางเคมีชัดเจนเลือกระยะ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

เมื่อลำแสงอิเล็กตรอนพลังงานเพียงพอโต้ตอบกับเป้าหมายตัวอย่างมันสร้างรังสีเอกซ์เช่นเดียวกับอิเล็กตรอนอนุพันธ์ (เช่นรองกลับกระจัดกระจายสว่าน) สเปกโตรมิเตอร์ความยาวคลื่นกระจายใช้รังสี X-ลักษณะที่สร้างขึ้นโดยแต่ละองค์ประกอบที่จะช่วยให้การวิเคราะห์เชิงปริมาณ (ลงไปติดตามระดับองค์ประกอบ) ที่จะวัดที่มีขนาดจุดที่มีขนาดเล็กเป็นไม่กี่ไมโครเมตร WDS นอกจากนี้ยังสามารถใช้ในการสร้างองค์ประกอบ X-ray แผนที่ compositional เป็นบริเวณกว้างโดยใช้วิธีการ rastering คาน ร่วมกันความสามารถเหล่านี้ให้ข้อมูลเชิงปริมาณ compositional พื้นฐานสำหรับความหลากหลายของวัสดุที่เป็นของแข็ง เทคนิคนี้จะเสริมให้กับสเปคโทรพลังงานกระจาย (EDS) ในที่ WDS spectrometers มีความละเอียดที่สูงขึ้นอย่างมีนัยสำคัญสเปกตรัมและศักยภาพในเชิงปริมาณที่เพิ่มขึ้น SEM และหลายเครื่องมือ EPMA มีระบบ EDS ติดกับคอลัมน์และ EPMA มักจะมีอาร์เรย์ของ spectrometers หลาย WDS สำหรับการวัดพร้อมกันของหลายองค์ประกอบ ในการใช้งาน EPMA ทั่วไป EDS จะใช้สำหรับการสแกนธาตุอย่างรวดเร็วเพื่อหาสิ่งที่มีวัสดุและ WDS ที่ใช้แล้วจะได้รับการวิเคราะห์สารเคมีที่ถูกต้องของขั้นตอนการคัดเลือก

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เมื่อลำแสงอิเล็กตรอนที่พลังงานที่เพียงพอ มีการโต้ตอบกับตัวอย่างเป้าหมายสร้างรังสีเอกซ์ เป็นอนุพันธ์ของอิเล็กตรอน ( เช่นรองกลับกระจัดกระจาย Auger ) ความยาวคลื่นที่ใช้ลักษณะกระจายตัวกล้องรังสีเอกซ์ที่สร้างขึ้นโดยแต่ละองค์ประกอบเพื่อให้ปริมาณวิเคราะห์ ( ลงเพื่อติดตามระดับธาตุ ) เป็นวัดที่จุดขนาดเล็กเท่าไม่กี่ไมโครเมตรWDS ยังสามารถใช้ในการสร้างส่วนประกอบองค์ประกอบเอ็กซ์เรย์แผนที่ทั่วพื้นที่กว้าง โดย rastering คาน ด้วยกัน ความสามารถเหล่านี้ให้ข้อมูลพื้นฐานเชิงปริมาณส่วนประกอบที่หลากหลายของวัสดุที่เป็นของแข็งเทคนิคนี้ช่วยส่งเสริมพลังงานกระจายตัวสเปกโทรสโกปี ( EDS ) ในนั้นมีความละเอียดสูงกว่า WDS าสเปกตรัมและเพิ่มศักยภาพเชิงปริมาณ SEM หลายและเครื่องมือ epma มีระบบการศึกษาติดเสา และ epma มักจะมีอาร์เรย์ของ WDS หลายาสําหรับการวัดองค์ประกอบหลายที่พร้อมกัน ในการใช้งาน epma ทั่วไปใช้ธาตุ EDS รวดเร็วสแกนเพื่อหาสิ่งที่เป็นวัสดุบรรจุและ WDS ที่ใช้แล้วได้รับแม่นยำเคมีการวิเคราะห์เลือกระยะ