Characterization of materials in th

Characterization of materials in the solid state, often loosely referred to as
materials characterization, can be a vast and diverse field encompassing
many techniques [1–3]. In the last few decades, revolutionary changes in
electronic instrumentation have increased the use of highly e¤ective automated
instruments for obtaining analytical information on the composition,
chemistry, surface, and internal structures of solids at micrometer and
nanometer scales. These techniques are based on various underlying principles
and cannot be put under one discipline or umbrella. Therefore, it is
important first to define the scope of techniques that can be covered in one
chapter.
In this chapter we are concerned with the two common categories
of materials characterization: microscopy and spectroscopy. Microscopy
implies obtaining magnified images to study the morphology, structure,
and shape of various features, including grains, phases, embedded phases,
embedded particles, and so on. Spectroscopy implies investigation of chemical
composition and chemistry of the solid. Within spectroscopy, bulk techniques
such as infrared, Raman, and Rutherford backscattering require
minimal sample preparation and are not touched upon. Emphasis is placed
on the spectroscopy of the outer atomic layers where sample preparation
and handling become important.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

จำแนกคุณลักษณะของวัสดุในสถานะของแข็ง หลวมมักจะเรียกว่าสมบัติของวัสดุ สามารถครอบคลุมฟิลด์ที่กว้างใหญ่ และหลากหลายเทคนิคมากมาย [1-3] ในไม่กี่ทศวรรษที่ผ่านมา ปฏิวัติการเปลี่ยนแปลงในเครื่องมือวัดอิเล็กทรอนิกส์เพิ่มขึ้นการใช้ e¤ective สูงอัตโนมัติเครื่องมือสำหรับการได้รับข้อมูลการวิเคราะห์องค์ประกอบเคมี พื้นผิว และโครงสร้างภายในของแข็งที่ไมโครมิเตอร์ และเครื่องชั่งนาโนเมตร เทคนิคเหล่านี้เป็นไปตามหลักการพื้นฐานต่าง ๆและไม่สามารถวางภายใต้หนึ่งวินัยหรือร่ม จึง มันเป็นสิ่งสำคัญก่อนการกำหนดขอบเขตของเทคนิคที่สามารถครอบคลุมในบทในบทนี้ เรามีความกังวลกับสองประเภททั่วไปของวัสดุสมบัติ: กล้องจุลทรรศน์และสเปกโทรสโก กล้องจุลทรรศน์หมายถึงได้รับภาพขยายการศึกษาสัณฐานวิทยา โครงสร้างและรูปร่างของสิ่งต่าง ๆ รวมทั้งธัญพืช ระยะ ระยะฝังฝังอนุภาค และอื่น ๆ สเปกโทรสโกหมายถึงการตรวจสอบสารเคมีองค์ประกอบและทางเคมีของของแข็ง ภายในสเปกโทรสโก เทคนิคจำนวนมากเช่นอินฟราเรด รามัน และรูเทอร์ฟอร์ด backscattering ต้องการการเตรียมตัวอย่างน้อยที่สุดและจะได้สัมผัสกับ จรรโลงในสเปกโทรสโกของอะตอมชั้นนอกซึ่งตัวอย่างการเตรียมการและการจัดการเป็นสำคัญ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ลักษณะของวัสดุในสถานะของแข็งมักจะหลวมเรียกว่า
ลักษณะวัสดุสามารถเป็นเขตกว้างใหญ่และมีความหลากหลายครอบคลุม
หลายเทคนิค [1-3] ในช่วงไม่กี่ทศวรรษที่ผ่านมาการปฏิวัติการเปลี่ยนแปลงใน
การใช้เครื่องมืออิเล็กทรอนิกส์ได้เพิ่มการใช้งานของอัตโนมัติe¤ectiveสูง
เครื่องมือสำหรับการได้รับข้อมูลการวิเคราะห์เกี่ยวกับองค์ประกอบ
ทางเคมีพื้นผิวและโครงสร้างภายในของของแข็งที่ไมโครเมตรและ
นาโนเมตรเครื่องชั่งน้ำหนัก เทคนิคเหล่านี้จะขึ้นอยู่กับหลักการพื้นฐานต่างๆ
และไม่สามารถนำภายใต้หนึ่งวินัยหรือร่ม ดังนั้นจึงเป็น
สิ่งสำคัญที่แรกที่จะกำหนดขอบเขตของเทคนิคที่สามารถครอบคลุมในหนึ่ง
บท.
ในบทนี้เรามีความกังวลเกี่ยวกับสองประเภททั่วไป
ของลักษณะวัสดุ: กล้องจุลทรรศน์และสเปกโทรสโก กล้องจุลทรรศน์
หมายถึงการได้รับการขยายภาพเพื่อศึกษาลักษณะทางสัณฐานวิทยาของโครงสร้าง
และรูปร่างของคุณสมบัติต่างๆรวมทั้งธัญพืชขั้นตอนขั้นตอนที่ฝัง
อนุภาคที่ฝังตัวและอื่น ๆ สเปกหมายถึงการตรวจสอบของสารเคมี
องค์ประกอบและคุณสมบัติทางเคมีของของแข็ง ภายในสเปคโทรเทคนิคจำนวนมาก
เช่นอินฟราเรดรามันและ backscattering Rutherford จำเป็นต้องมี
การเตรียมตัวอย่างน้อยที่สุดและไม่ได้สัมผัสกับ เน้นวางอยู่
บนสเปกโทรสโกของชั้นนอกของอะตอมที่การเตรียมตัว
และการจัดการกลายเป็นสิ่งสำคัญ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ลักษณะสมบัติของวัสดุในสถานะของแข็ง มักจะเรียกว่า หลวม ๆวัสดุการศึกษา สามารถมาก และครอบคลุมหลากหลายด้านหลายเทคนิคที่ 1 ) [ 3 ] ในช่วงไม่กี่ทศวรรษที่ผ่านมา การเปลี่ยนแปลงการปฏิวัติในเครื่องมือวัดอิเล็กทรอนิกส์ได้เพิ่มการใช้สูง E ¤ ective แบบอัตโนมัติเครื่องมือสำหรับการได้รับข้อมูลวิเคราะห์เกี่ยวกับองค์ประกอบเคมีพื้นผิวและโครงสร้างภายในของของแข็งที่ .ระดับนาโนเมตร . เทคนิคเหล่านี้จะขึ้นอยู่กับหลักการพื้นฐานต่าง ๆและไม่สามารถใส่ภายใต้หนึ่งวินัย หรือร่ม ดังนั้น จึงเป็นที่สำคัญก่อน เพื่อกำหนดขอบเขตของเทคนิคที่สามารถครอบคลุมในหนึ่งบทในบทนี้เราจะเกี่ยวข้องกับทั่วไปสองประเภทวัสดุและคุณสมบัติ : ใช้สเปกโทรสโกปี กล้องจุลทรรศน์หมายถึงการได้รับการขยายภาพเพื่อศึกษาสัณฐานวิทยา โครงสร้างและรูปร่างลักษณะต่าง ๆ รวมถึงธัญพืช , ขั้นตอน , ขั้นตอนที่ฝังตัว ,อนุภาคที่ฝังตัว , และอื่น ๆ ีหมายถึงการตรวจสอบทางเคมีส่วนประกอบและเคมีของของแข็ง ภายในสเปคโตรสโคปี เทคนิคขนาดใหญ่เช่น อินฟราเรด รามัน และ backscattering ต้อง รัทเธอร์ฟอร์ดตัวอย่างการเตรียมน้อยที่สุดและจะไม่สัมผัสกับ จะเน้นในสเปกโทรสโกปีของอะตอมที่ตัวอย่างการเตรียมชั้นนอกและการจัดการเป็นสำคัญ