3.4.2. The lowest detection concent

3.4.2. The lowest detection concentration and linear range
The anodic stripping voltammograms of Ag+ (Fig. 6 (a)), Cu2+
(Fig. 7(c)) and the corresponding calibration plots for Ag+ (Fig. 6(b))
and Cu2+ (Fig. 7(d)) are recorded at the optimum deposition
potential and time. During the detection of Ag+, anodic peaks corresponding
to Ag
→
Ag+ appear at around 0.2 V at low concentrations
and the position of this stripping peak slightly shifts to the more
positive potential with increasing ion concentration. This can be
explained by the Nernst equation and is usually observed during
in the heavy metal ions detection [20]. Noticeably, the shapes
of the anodic peaks are asymmetric showing a sluggish rise followed
by a sharp drop, caused by non-uniform electron-transfer
kinetics on the surface of the hybrid films where phase interfaces
exist. The peak currents show an excellent linear relationship
(r2 ≥
0.997) with the ion concentration over a wide range from 10
to 1000 ppb (Fig. 6(b)). The detection limit of Ag+ is calculated to be
5.8 ppb based on five individual measurements. The anodic stripping
voltammograms of Cu2+ detection exhibit similar trends to
those of Ag+. The position of anodic peaks is around
−0.1 V at low
Cu2+ concentration. The intensities of anodic peak also increase linearly
with metal ion concentrations with r2 ≥
0.998 over a wide
range. The detection limit for Cu2+ is calculated to be 5.6 ppb which
is lower than that on the B-doped diamond (10 ppb) [36]. The background
currents of the diamond/graphite electrode in Ag+ and Cu2+
detection are
∼1.5 A/cm2 and
∼4.7 A/cm2, which are of the same
magnitude with B-doped diamond electrodes [36]. The simultaneous
determination of Ag+ and Cu2+ is also possible on the hybrid

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

3.4.2.ต่ำสุดตรวจหาความเข้มข้นและช่วงเชิงเส้นVoltammograms ลอกไลของ Ag + (รูป 6 (a)), Cu2 +(รูป 7(c)) และการสอบเทียบที่สอดคล้องกันวางสำหรับ Ag + (รูป 6(b))และ Cu2 + (รูป 7(d)) จะถูกบันทึกไว้ที่สะสมที่ดีที่สุดศักยภาพและเวลา ในระหว่างการตรวจสอบของ Ag + ไลยอดตรงการ Ag→Ag + ปรากฏที่รอบ 0.2 V ที่ความเข้มข้นต่ำและตำแหน่งของยอดนี้ลอกเล็กน้อยเปลี่ยนไปมากศักยภาพบวกกับเพิ่มความเข้มข้นไอออน นี้สามารถอธิบายได้ ด้วยสมการของ Nernst และมักจะได้จากสังเกตในระหว่างในตรวจการไอออนโลหะหนัก [20] อย่างเห็นได้ชัด รูปร่างมียอดไลสมมาตรแสดงขึ้นซบเซาตามโดยวางคม เกิดจากการถ่ายโอนอิเล็กตรอนไม่สม่ำเสมอน้ำหนักบนพื้นผิวของฟิล์มผสมที่ซึ่งขั้นตอนการเชื่อมต่อมีอยู่ กระแสสูงสุดที่แสดงความสัมพันธ์เชิงเส้นดี(r2 ≥0.997) กับความเข้มข้นไอออนผ่านได้ตั้งแต่ 10การ 1000 ppb (รูป 6(b)) คำนวณขีดจำกัดการตรวจจับของ Ag + จะppb 5.8 ที่ตามวัดแต่ละครั้งที่ห้า ลอกไลvoltammograms ของ Cu2 + ตรวจมีแนวโน้มคล้ายไปบรรดาของ Ag + ตำแหน่งของยอดไลอยู่ที่ประมาณ−0.1 V ที่ต่ำCu2 + ความเข้มข้น ความเข้มของพีคไลยังเพิ่มเชิงเส้นมีความเข้มข้นของไอออนโลหะกับ r2 ≥0.998 ผ่านเป็นวงกว้างช่วงนี้ คำนวณขีดจำกัดการตรวจสอบสำหรับ Cu2 + เป็น 5.6 ppb ซึ่งต่ำกว่าเพชรเจือ B (10 ppb) [36] พื้นหลังกระแสของขั้วเพชร/ไฟท์ Ag + และ Cu2 +มีการตรวจจับ∼1.5 A/cm2 และ∼4.7 A/cm2 ซึ่งเป็นที่เดียวกันขนาดกับขั้ว B เจือเพชร [36] พร้อมกันยังเป็นของ Ag + และ Cu2 + ในไฮบริ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

3.4.2 ต่ำสุดที่ตรวจสอบความเข้มข้นและเชิงเส้นช่วง
ไลปอก voltammograms ของ Ag + (รูปที่. 6 (ก)) Cu2 +
(รูปที่ 7. (c)) และสอดคล้องกับแผนการสอบเทียบ Ag + (รูปที่. 6 (ข))
และ Cu2 + (รูปที่ 7. (D)) จะถูกบันทึกไว้ในการสะสมที่ดีที่สุด
ที่มีศักยภาพและเวลา ในระหว่างการตรวจสอบของ Ag + ยอดเขาขั้วบวกที่สอดคล้องกัน
เพื่อ Ag
→
Ag + ปรากฏอยู่ที่ประมาณ 0.2 V ที่ความเข้มข้นต่ำ
และตำแหน่งของจุดสูงสุดลอกนี้กะเล็กน้อยเพื่อที่มากกว่าที่
มีศักยภาพในเชิงบวกที่มีความเข้มข้นของไอออนที่เพิ่มขึ้น นี้สามารถ
อธิบายได้ด้วยสมการ Nernst และมักจะเป็นที่สังเกตในช่วง
ในการตรวจจับไอออนโลหะหนัก [20] อย่างเห็นได้ชัดรูปร่าง
ของยอดเขาที่มีขั้วบวกไม่สมมาตรแสดงเพิ่มขึ้นซบเซาตาม
โดยลดลงเกิดจากการไม่สม่ำเสมออิเล็กตรอนโอน
จลนศาสตร์บนพื้นผิวของฟิล์มไฮบริดที่อินเตอร์เฟซเฟส
อยู่ กระแสสูงสุดแสดงความสัมพันธ์เชิงเส้นที่ดีเยี่ยม
(R2 ≥
0.997) ที่มีความเข้มข้นของไอออนในช่วงที่กว้าง 10 จาก
ที่จะ ppb 1000 (รูปที่. 6 (ข)) ขีด จำกัด ของการตรวจสอบของ Ag + การคำนวณให้เป็น
5.8 ppb ขึ้นอยู่กับแต่ละวัดห้า ขั้วบวกลอก
voltammograms ของ Cu2 + การตรวจสอบแสดงแนวโน้มคล้ายกับ
บรรดาของ Ag + ตำแหน่งของยอดขั้วบวกอยู่ที่ประมาณ
-0.1 V ที่ต่ำ
Cu2 + เข้มข้น ความเข้มของจุดสูงสุดขั้วบวกยังเพิ่มเส้นตรง
ที่มีความเข้มข้นของไอออนโลหะกับ R2 ≥
0.998 กว่ากว้าง
ช่วง ขีด จำกัด การตรวจสอบสำหรับ Cu2 + การคำนวณให้เป็น 5.6 ppb ซึ่ง
ต่ำกว่าในเพชร B-เจือ (10 ppb) [36] พื้นหลัง
กระแสไฟฟ้าเพชร / กราไฟท์ใน Ag + และ Cu2 +
การตรวจสอบมี
~1.5? A / cm2 และ
~4.7? A / cm2 ซึ่งเป็นของที่เหมือนกัน
ขนาดกับ B-เจือขั้วไฟฟ้าเพชร [36] พร้อมกัน
มุ่งมั่นของ Ag + และ Cu2 + ยังเป็นไปได้ในไฮบริด

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

3.4.2 . นตรวจจับความเข้มข้นและช่วงเชิงเส้นส่วนการลอก voltammograms ของ AG + ( รูปที่ 6 ) CU2 + )( รูปที่ 7 ( C ) และที่ปรับแต่งแปลง AG + ( ภาพที่ 6 ( B )แล้ว CU2 + ( รูปที่ 7 ( D ) เป็นบันทึกที่สะสมสูงสุดศักยภาพ และ เวลา ในการตรวจหาของ AG + ยอดการสอดคล้องกันเพื่อ เอจี→ keyboard - key - nameAG + ปรากฏประมาณ 0.2 V ที่ความเข้มข้นต่ำและตำแหน่งสูงสุดนี้ลอกเล็กน้อย กะให้มากขึ้นที่มีศักยภาพในเชิงบวกกับการเพิ่มความเข้มข้นของไอออน . นี้สามารถสามารถอธิบายได้ด้วยสมการ และมักพบในเนิร์นสท์ในการตรวจจับไอออนโลหะหนัก [ 20 ] เห็นได้ชัด , รูปร่างของการเป็นยอดไม่แสดงขึ้นที่ซบเซาตามโดยชะลอตัวลง เกิดจากการถ่ายโอนอิเล็กตรอนไม่สม่ำเสมอจลนศาสตร์บนพื้นผิวของฟิล์มที่เฟสใหม่ ไฮบริดอยู่ กระแสสูงสุดที่แสดงความสัมพันธ์เชิงเส้นตรงที่ยอดเยี่ยม( R2 ≥การทดสอบ ) กับไอออนเข้มข้นมากกว่าที่หลากหลายจาก 101 , 000 ppb ( ภาพที่ 6 ( B ) การตรวจสอบวงเงินของ AG + คำนวณเป็น5.8 ppb ตามห้าวัดแต่ละ ในการปอกvoltammograms แนวโน้ม CU2 + การจัดแสดงคล้ายกับของ AG + ตำแหน่งของการเป็นยอดๆ− 0.1 V ต่ำCU2 + สมาธิ ส่วนความเข้มของการเพิ่มน้ำหนักสูงสุดกับโลหะไอออนเข้มข้นกับ R2 ≥0.998 มากกว่ากว้างช่วง ขอบเขตการตรวจสอบ CU2 + คำนวณเป็น 5.6 ppb ซึ่งต่ำกว่าใน b-doped เพชร ( 10 ppb ) [ 36 ] พื้นหลังกระแสของเพชรและแกรไฟต์ electrode AG + CU2 +การตรวจสอบเป็น∼ 1.5 A / cm2 และ∼ 4.7 / cm2 ซึ่งเป็นแบบเดียวกันขนาดกับ b-doped เพชรขั้วไฟฟ้า [ 36 ] พร้อมกันการหาปริมาณ Ag + และ CU2 + เป็นไปได้ในไฮบริด