IV. FUNCTIONAL TESTS AND DATA VISUA

IV. FUNCTIONAL TESTS AND DATA VISUALIZATION
Functional tests of the system and frequency measurements for each sensor were performed. In the FPGA device, there was only the measurement structure (i.e., the array of ring oscillators), no other structure was implemented. There were no other elements which could (intentionally or not) generate additional self-heating (idle mode). During the tests, the correctness of array and SPI register implementation was checked. Then, the commands for activity the chosen ring oscillator and data collection in Raspberry Pi were tested.

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

IV การทดสอบการทำงานและแสดงข้อมูลการทดสอบการทำงานของระบบและการวัดความถี่สำหรับแต่ละเซ็นเซอร์ได้ดำเนินการ
ในอุปกรณ์ FPGA ที่มีโครงสร้างเป็นเพียงการวัด (เช่นอาร์เรย์ของ oscillators แหวน) ไม่มีโครงสร้างอื่น ๆ ที่ถูกนำมาใช้ ไม่มีองค์ประกอบอื่น ๆ ซึ่งอาจเป็น (โดยเจตนาหรือไม่) สร้างความร้อนที่เพิ่มขึ้นด้วยตนเอง (โหมดไม่ได้ใช้งาน) ในระหว่างการทดสอบความถูกต้องของอาร์เรย์และ SPI ทะเบียนการดำเนินการถูกตรวจสอบ จากนั้นคำสั่งสำหรับกิจกรรม oscillator แหวนเลือกและการเก็บรวบรวมข้อมูลในราสเบอร์รี่ชิ้นได้รับการทดสอบ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

4 . หน้าที่และการทดสอบการทำงานการทดสอบการแสดงข้อมูล
วัดระบบและความถี่สำหรับแต่ละเครื่องมือในการวิจัย ในอุตสาหกรรมอุปกรณ์ มีเพียงการวัดโครงสร้าง ( เช่นอาร์เรย์ของ oscillators แหวน ) ไม่มีโครงสร้างอื่น ๆถูกนำมาใช้ ไม่มีองค์ประกอบอื่น ๆซึ่งอาจ ( จงใจหรือไม่ ) สร้างความร้อนด้วยตนเองเพิ่มเติม ( โหมดใช้งาน ) ในระหว่างการทดสอบความถูกต้องของเรย์และ SPI ใช้ลงทะเบียนได้ตรวจสอบแล้ว แล้ว คำสั่งสำหรับกิจกรรมที่เลือกแหวน oscillator และการเก็บข้อมูลในราสเบอร์รี่ pi
ถูกทดสอบ