LIBS qualitative analysis of tea samples
The optimized experimental laser parameters such as laser energy, time delay between the opening of ICCD shutter and incident laser pulse, number of accumulation and geometrical arrangement were all optimized and kept same for all the data acquisition process as described in the previous section. In order to identify the composition of tea samples, it is required to carry out the compositional analysis first and then afterwards to determine the elements of interest. Fig. 6 depicts a typical LIBS spectra for six brands (sample 1–6) of tea samples in the wavelength range of 250–350 nm, with strong ionic emission lines of Fe II at 275.6 nm and Cr II at 286.5 nm. Here emission line intensities vary from one tea sample to the other, which indicate that samples have different Fe and Cr content. The finger print wavelength or signature lines of Fe II (275.6 nm) and Cr II (286.5 nm) was identified in all brands of the tea samples as depicted in Fig. 6. Other atomic and ionic emission lines identified within the wavelength range 250–350 nm are Fe I (277. 2 nm), Fe I (283.8 nm), Fe I (297.3 nm), K I (310.5 nm), Ca II (317.9 nm) and Si II (320.0 nm), with notable differences in their emission lines intensities, which indicates differences in their concentration from one tea sample to the other. Fig. 7 shows a typical LIBS spectra for the six brands of tea samples in the wavelength range of 760–800 nm, with strong atomic emission lines of K I at 766.5 nm and Br I at 793.9 nm, with varied emission line intensities from one tea sample to the other, which indicate different elemental content. The signature (finger print) lines of K I (766.5 nm) and Br I (793.9 nm) are well identified in all brands of the tea sample as depicted within a box in Fig. 7. Other atomic and ionic emission lines identified within the wavelength range 760–800 nm are Cu II (777. 9 nm), Cu II (774.4 nm) and Si II (784.9 nm) with notable differences in their emission lines intensities, which indicates the difference in their concentration from one tea sample to the other sample.
วิเคราะห์คุณภาพ LIBS อย่างชาThe optimized experimental laser parameters such as laser energy, time delay between the opening of ICCD shutter and incident laser pulse, number of accumulation and geometrical arrangement were all optimized and kept same for all the data acquisition process as described in the previous section. In order to identify the composition of tea samples, it is required to carry out the compositional analysis first and then afterwards to determine the elements of interest. Fig. 6 depicts a typical LIBS spectra for six brands (sample 1–6) of tea samples in the wavelength range of 250–350 nm, with strong ionic emission lines of Fe II at 275.6 nm and Cr II at 286.5 nm. Here emission line intensities vary from one tea sample to the other, which indicate that samples have different Fe and Cr content. The finger print wavelength or signature lines of Fe II (275.6 nm) and Cr II (286.5 nm) was identified in all brands of the tea samples as depicted in Fig. 6. Other atomic and ionic emission lines identified within the wavelength range 250–350 nm are Fe I (277. 2 nm), Fe I (283.8 nm), Fe I (297.3 nm), K I (310.5 nm), Ca II (317.9 nm) and Si II (320.0 nm), with notable differences in their emission lines intensities, which indicates differences in their concentration from one tea sample to the other. Fig. 7 shows a typical LIBS spectra for the six brands of tea samples in the wavelength range of 760–800 nm, with strong atomic emission lines of K I at 766.5 nm and Br I at 793.9 nm, with varied emission line intensities from one tea sample to the other, which indicate different elemental content. The signature (finger print) lines of K I (766.5 nm) and Br I (793.9 nm) are well identified in all brands of the tea sample as depicted within a box in Fig. 7. Other atomic and ionic emission lines identified within the wavelength range 760–800 nm are Cu II (777. 9 nm), Cu II (774.4 nm) and Si II (784.9 nm) with notable differences in their emission lines intensities, which indicates the difference in their concentration from one tea sample to the other sample.
การแปล กรุณารอสักครู่..
![](//thimg.ilovetranslation.com/pic/loading_3.gif?v=b9814dd30c1d7c59_8619)
ห้องสมุดการวิเคราะห์ตัวอย่างชาเหมาะสมทดลองเลเซอร์พารามิเตอร์เช่นพลังงานเลเซอร์ , การหน่วงเวลาระหว่างการเปิดชัตเตอร์ iccd ชีพจรเลเซอร์และเหตุการณ์ จำนวนของการสะสมและการจัดรูปทรงเรขาคณิตทั้งหมดที่ดีที่สุดและเก็บเดียวกันสำหรับทุกข้อมูล กระบวนการที่อธิบายไว้ในส่วนก่อนหน้านี้ เพื่อระบุองค์ประกอบของตัวอย่างชา จะต้องดําเนินการวิเคราะห์ส่วนประกอบแรกและหลังจากนั้นเพื่อกำหนดองค์ประกอบของดอกเบี้ย ภาพที่ 6 แสดงให้เห็นโดยทั่วไป libs spectra 6 ยี่ห้อ ( ตัวอย่าง 1 – 6 ) ตัวอย่างชาในช่วงความยาวคลื่นของ 250 – 350 nm ที่มีพลังไอออนหลักล้านของ FE II ที่ 275.6 nm และ Cr II ที่ 286.5 nm . ที่นี่ใช้เส้นเข้มแตกต่างจากชาหนึ่งตัวอย่างอื่น ๆ ซึ่งพบว่าตัวอย่างที่แตกต่างกันและ Cr Fe เนื้อหา ความยาวคลื่นลายนิ้วมือหรือลายเซ็นบรรทัดของ FE II ( 275.6 nm ) และ Cr II ( 286.5 nm ) ถูกระบุในยี่ห้อของ ชา ตัวอย่างที่ปรากฎในรูปที่ 6 อื่น ๆระบุ ภายในอะตอมและไอออนเส้นเปล่งแสงช่วงความยาวคลื่น 250 – 350 nm เป็น Fe ( 277 . 2 nm ) , Fe ( 283.8 nm ) , Fe ( 297.3 nm ) , K ( , 2 310.5 nm ) Ca ( 317.9 nm ) และ SI II ( 320.0 nm ) กับเด่นที่แตกต่างของเส้นเปล่งแสงเข้ม ซึ่งบ่งชี้ว่า ความแตกต่างของความเข้มข้นของพวกเขาจากชา ตัวอย่างอื่น ๆ รูปที่ 7 แสดงให้เห็นโดยทั่วไปเย็นสำหรับ 6 ยี่ห้อ Spectra ชาตัวอย่างในช่วงความยาวคลื่นของ 760 – 800 nm ที่มีพลังปรมาณูหลักล้านของฉัน ที่ 766.5 nm และ BR ผมที่ 793.9 nm ที่มีหลากหลายจาคะเข้มจากชา ตัวอย่างอื่น ๆ ซึ่งบ่งชี้ว่า ปริมาณธาตุต่างๆ ลายเซ็น ( นิ้ว ) สาย K ( 766.5 nm ) และห้องนอนผม ( 793.9 nm ) จะระบุยี่ห้อของตัวอย่างชา เป็นภาพภายในกล่องในรูปที่ 7 อื่น ๆระบุ ภายในอะตอมและไอออนเส้นเปล่งแสงช่วงความยาวคลื่น 760 – 800 nm เป็น CU II ( 777 . 9 nm ) , Cu ( II 774.4 nm ) และ SI II ( 784.9 nm ) เด่นที่แตกต่างของเส้นเปล่งแสงเข้ม ซึ่งแสดงถึงความแตกต่างของความเข้มข้นของพวกเขาจากชาตัวอย่าง ตัวอย่างอื่น ๆ
การแปล กรุณารอสักครู่..
![](//thimg.ilovetranslation.com/pic/loading_3.gif?v=b9814dd30c1d7c59_8619)