Fourier transform infrared spectros

Fourier transform infrared spectroscopy (FTIR), scanning electron microscope (SEM), atomic force microscope (AFM) and X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) analysis.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ฟูริเยร์การแปลงแบบอินฟราเรดสเปกโทรสโก (FTIR), กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM), อะตอมบังคับกล้องจุลทรรศน์ (AFM) และการวิเคราะห์ X-ray photoelectron สเปกโทรสโก (XPS)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ฟูเรียร์อินฟราเรด (FTIR) กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM), แรงอะตอมกล้องจุลทรรศน์ (AFM) และเอ็กซ์เรย์โฟโตอิเล็กตรอนสเปกโทรสโก (XPS) การวิเคราะห์

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ฟูเรียร์ทรานฟอร์มอินฟราเรดสเปกโทรสโกปี ( FTIR ) กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) และกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม ( AFM ) และเครื่อง X-ray photoelectron spectroscopy ( XPS ) การวิเคราะห์