4. Scanning electron micrographs of

4. Scanning electron micrographs of the cryogenically
fractured cross-section surfaces for the PC/MWNT composites at
2.5 wt% MWNT: (a) low magnitfication and (b) high magnification.
Figure 5. Scanning electron micrographs of the cryogenically
fractured cross-section surfaces for the PC/MWNT composites at
15.0 wt% MWNT: (a) low magnification and (b) high magnification.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

4. micrographs อิเล็กตรอนของการสแกน cryogenicallyพื้นร้าว cross-section สำหรับคอมโพสิต PC/MWNT ที่2.5 wt % MWNT: magnitfication (การ) ต่ำและกำลังขยาย (b) สูงขึ้นรูปที่ 5 การสแกน micrographs อิเล็กตรอนของการ cryogenicallyพื้นร้าว cross-section สำหรับคอมโพสิต PC/MWNT ที่15.0 wt % MWNT: ขยาย (ความ) ต่ำและกำลังขยาย (b) สูงขึ้น

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

4. กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบสแกนของ cryogenically
พื้นผิวตัดร้าวสำหรับคอมโพสิต PC / MWNT ที่
2.5% โดยน้ำหนัก MWNT: (A). magnitfication ต่ำและ (ข) กำลังขยายสูง
รูปที่ 5 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบสแกนของ cryogenically
ร้าวข้ามส่วน พื้นผิวสำหรับคอมโพสิต PC / MWNT ที่
15.0% โดยน้ำหนัก MWNT (ก) ขยายต่ำและ (ข) กำลังขยายสูง