To solve these problems, we have pr

To solve these problems, we have proposed a sensor system
that compares sequential readings at two voltages to determine
circuit I − T dependence [16], as shown in Fig. 1. While our
previous dependence sensor work concentrated on proving system
functionality, this brief concentrates on chip design issues
such as linearity, calibration (and compensation for process
variations), and validation of the design with chip measurements.
The remainder of this brief is organized as follows:
The temperature dependence sensor system chip is described
in Section II, measurement results are discussed in Section III,
and conclusions are provided in Section IV.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การแก้ปัญหาเหล่านี้ เราได้นำเสนอระบบเซ็นเซอร์ที่เปรียบเทียบการอ่านลำดับที่ 2 แรงดันในการกำหนดวงจรผมพึ่งพา− T [16], ดังที่แสดงใน Fig. 1 ในขณะที่ของเราก่อนหน้านี้พึ่งพาเซนเซอร์ทำงานเข้มข้นในระบบพิสูจน์ฟังก์ชัน บทสรุปนี้มุ่งเน้นในเรื่องการออกแบบชิปแบบดอกไม้ เทียบ (และค่าตอบแทนสำหรับกระบวนการรูปแบบ), และการตรวจสอบการออกแบบมีชิพวัดจัดส่วนเหลือนี้โดยสังเขปดังนี้:อธิบายเซ็นเซอร์อุณหภูมิพึ่งพาระบบชิพในส่วน II กล่าวถึงผลการประเมินในส่วน IIIและมีบทสรุปในส่วนที่ IV

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ในการแก้ปัญหาเหล่านี้เราได้นำเสนอระบบเซ็นเซอร์ที่เปรียบเทียบการอ่านลำดับที่สองแรงดันไฟฟ้าเพื่อตรวจสอบวงจรI - พึ่งพา T [16] ดังแสดงในรูปที่ 1. ในขณะที่เราทำงานเซ็นเซอร์การพึ่งพาอาศัยกันก่อนหน้าจดจ่ออยู่กับการพิสูจน์ระบบการทำงานสั้นๆ นี้มุ่งเน้นที่ปัญหาการออกแบบชิปเช่นเส้นตรงสอบเทียบ(และค่าชดเชยสำหรับกระบวนการรูปแบบ) และการตรวจสอบของการออกแบบที่มีการวัดชิป. ส่วนที่เหลือสั้น ๆ นี้มีการจัดระเบียบ ดังต่อไปนี้การพึ่งพาอาศัยอุณหภูมิชิประบบเซ็นเซอร์อธิบายไว้ในส่วนที่สองผลการวัดที่จะกล่าวถึงในส่วนที่สามและข้อสรุปที่มีการบัญญัติไว้ในมาตราIV

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เพื่อแก้ไขปัญหาเหล่านี้ เราได้เสนอระบบเซ็นเซอร์ที่เปรียบเทียบการอ่านลำดับที่ 2

: หาวงจรผม− T [ 16 ] การ ดังแสดงในรูปที่ 1 ขณะที่การพึ่งพางานเซ็นเซอร์ของเราก่อนหน้านี้
เน้นพิสูจน์การทำงานระบบ
, สั้นๆเน้นประเด็นการออกแบบชิป
เช่นเส้นตรง , การสอบเทียบและการชดเชยสำหรับกระบวนการ
รูปแบบ ) ,และการตรวจสอบความถูกต้องของการออกแบบด้วยการวัดชิป
ส่วนที่เหลือนี้สั้นจะจัดได้ดังนี้
อุณหภูมิการพึ่งพา ระบบเซ็นเซอร์ชิปอธิบาย
ในส่วนที่ ii ผลการวัดจะถูกกล่าวถึงในมาตราที่ 3
และข้อสรุปไว้ในมาตรา IV