In practical use of the P-XRF instr

In practical use of the P-XRF instrument, if the application justifies an analysis based on a single measurement, data in Table 8 show that determinations can be made to a sampling precision (expressed as the relative standard deviation of the mean) of better than 10% (almost 5% in the case of the Whin Sill dolerite) on the four fine- to medium-grained samples listed.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ในการใช้งานจริงของเครื่องมือ P-XRF หากแอปพลิเคชันใช้การวิเคราะห์โดยอิงจากการวัดเพียงครั้งเดียว ข้อมูลในตารางที่ 8 แสดงให้เห็นว่าสามารถกำหนดความแม่นยำในการสุ่มตัวอย่างได้ (แสดงเป็นค่าเบี่ยงเบนมาตรฐานสัมพัทธ์ของค่าเฉลี่ย) ที่ดีกว่า 10% (เกือบ 5% ในกรณีของโดเลอไรต์ Whin Sill) จากตัวอย่างเนื้อละเอียดถึงปานกลางสี่ตัวอย่างที่ระบุไว้

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ในการใช้งานจริงของเครื่องมือ P-XRF หากการประยุกต์ใช้พิสูจน์ว่าการวิเคราะห์บนพื้นฐานของการวัดเดียวนั้นสมเหตุสมผลข้อมูลในตารางที่ 8 แสดงให้เห็นว่าความแม่นยำในการสุ่มตัวอย่างของสี่ตัวอย่างละเอียดถึงขนาดกลางที่ระบุไว้ (แสดงเป็นค่าเบี่ยงเบนมาตรฐานสัมพัทธ์ของค่าเฉลี่ย) สามารถเกิน 10% (เกือบ 5% ในกรณีของหินบะซอลต์หยาบ Fiixir)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ในการใช้งานจริงของเครื่องมือP-XRFข้อมูลในตารางที่8แสดงให้เห็นว่าความแม่นยําในการสุ่มตัวอย่าง(แสดงเป็นค่าเบี่ยงเบนมาตรฐานสัมพัทธ์ของค่าเฉลี่ย)ของตัวอย่างขนาดกลางถึงขนาดกลางทั้งสี่ตัวอย่างที่ระบุไว้สามารถทําได้ดีกว่า10 % (เกือบ5 %สําหรับWhin Sill rude rock )