Scanning electron microscopy (SEM)

Scanning electron microscopy (SEM) images were obtained
on a field emission scanning electron microanalyzer (Zeiss
Supra 40) at an acceleration voltage of 5 kV. Transmission
electron microscope (TEM) was operated on a Hitachi H7650
transmission electron microscope with CCD imaging system
on an acceleration voltage of 120 kV. High-resolution transmission
electron microscope (HRTEM) and Energy filter TEM
(EFTEM) mappings were carried out on a JEM-ARM 200F
Atomic Resolution Analytical Microscope. The powder X-ray
diffraction (XRD) studies were performed on a Philips X’Pert
Pro Super X-ray diffractometer equipped with graphite
monochromatized Cu Kα radiation (λ=1.541841 Å). X-ray

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ได้รับการสแกนภาพ microscopy อิเล็กตรอน (SEM)ในมลพิษฟิลด์ที่สแกน microanalyzer อิเล็กตรอน (ZeissSupra 40) ที่แรงเร่ง 5 kV ส่งกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (ยการ) ได้ดำเนินการใน H7650 ฮิตาชิกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนส่ง ด้วยภาพระบบ CCDในการเร่งแรง 120 kV ความละเอียดสูงส่งกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (HRTEM) และตัวกรองพลังงานยการแม็ป (EFTEM) ได้ดำเนินการบนแบบ JEM-แขน 200Fความละเอียดของอะตอมวิเคราะห์กล้องจุลทรรศน์ ผงเอ็กซ์เรย์ดำเนินการศึกษาการเลี้ยวเบน (XRD) บน X'Pert ฟิลิปส์Diffractometer เอกซเรย์ Super pro พร้อมก้านmonochromatized Cu Kα รังสี (λ = 1.541841 Å) เอ็กซ์เรย์

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสแกน (SEM)
ที่ได้รับภาพในการปล่อยสนามอิเล็กตรอนสแกนmicroanalyzer (ที่ Zeiss
Supra 40) ที่แรงดันการเร่งความเร็วของ 5 กิโลโวลต์ ส่งกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (TEM) เป็นผู้ดำเนินการเกี่ยวกับ บริษัท ฮิตาชิ H7650 ส่งกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนที่มีระบบการถ่ายภาพที่ CCD ในการเร่งความเร็วของแรงดันไฟฟ้า 120 กิโลโวลต์ การส่งผ่านความละเอียดสูงกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (HRTEM) และตัวกรองพลังงาน TEM (EFTEM) แมปได้ดำเนินการใน JEM-ARM 200F ปรมาณูไมโครสโคปความละเอียดการวิเคราะห์ ผงเอ็กซ์เรย์เลนส์ (XRD) การศึกษาได้ดำเนินการในฟิลิปส์ X'Pert โปรซูเปอร์มาตรการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์พร้อมกับกราไฟท์monochromatized Cu Kαรังสี (λ = 1.541841 Å) รังสีเอกซ์

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) ภาพที่ได้
บนสนามการปล่อยอิเล็กตรอนสแกน microanalyzer ( Zeiss
Supra 40 ) ที่เร่งแรงดัน 5 KV . กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนเกียร์
( TEM ) คือผ่าตัด ฮิตาชิ h7650
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนกับระบบภาพ CCD
บนเร่งแรงดัน 120 kV .
ส่งความละเอียดสูงกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ( hrtem ) และพลังงาน ( eftem
เต็มกรอง ) แมปถูกดำเนินการใน jem-arm 200f
อะตอมละเอียดวิเคราะห์กล้องจุลทรรศน์ แป้งเอ็กซ์เรย์
การเลี้ยวเบน ( XRD ) ศึกษาการในฟิลิปส์ x'pert
Super Pro เอ็กซ์เรย์ดิฟแฟรกโทมิเตอร์พร้อมกับแกรไฟต์
monochromatized Cu K αรังสี ( λ = 1.541841 Å ) เอกซเรย์