2.2. CharacterizationX-ray diffract

2.2. CharacterizationX-ray diffraction (XRD) patterns were observed on a RigakuDmax X-ray diffractometer using Cu K radiation. BET surface areawas measured on ASAP2020 using N2adsorption at −196◦C. Ramanspectra were recorded on a Renishaw inVia Raman microscopeusing an excitation of 632 nm laser light. Transmission electronmicroscopy (TEM) images were obtained on a JEM-100CX electronmicroscope. XPS spectra were obtained by a VG Multilab 2000 X-rayphotoelectron spectrometer using Mg K radiation, and calibratedby referencing the binding energy to adventitious carbon (C1s284.6 eV). Diffuse reflectance UV–vis–IR (DRUV–vis–IR) absorptionspectra were recorded on a UV-3600 spectrophotometer. Photolu-minescence spectra (PL) were recorded at room temperature on aQM/TM/NIR spectrofluorometer (PTI) by using 337 nm and 480 nmexcitation

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

2.2. รูปแบบการเลี้ยวเบน (XRD) เรย์ CharacterizationX สุภัคบน diffractometer RigakuDmax เอ็กซ์เรย์ที่ใช้รังสี Cu K วัดพื้นที่ผิวเดิมพันบน ASAP2020 โดยใช้ N2adsorption ที่ −196◦C Ramanspectra ได้บันทึกไว้ใน inVia Renishaw microscopeusing รามันในการกระตุ้นการแสงเลเซอร์ nm 632 ส่งรูป electronmicroscopy (ยการ) ได้รับบน electronmicroscope JEM-100CX แรมสเป็คตรา XPS ได้รับ โดยสเปกโตรมิเตอร์ VG Multilab 2000 X-rayphotoelectron การใช้รังสี Mg K และ calibratedby ที่อ้างอิงถึงพลังงานรวมกับคาร์บอน adventitious (C1s284.6 eV) กระจายแบบสะท้อนแสง UV – vis – IR (DRUV – วิ – IR) absorptionspectra ได้บันทึกไว้ในเครื่องทดสอบกรดด่างเป็น UV-3600 Photolu-minescence แรมสเป็คตรา (PL) บันทึกอุณหภูมิห้องบน spectrofluorometer aQM/TM/NIR (PTI) โดย 337 nm และ 480 nmexcitation

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

2.2 การเลี้ยวเบน CharacterizationX-ray (XRD) รูปแบบถูกตั้งข้อสังเกตใน diffractometer RigakuDmax เอ็กซ์เรย์โดยใช้ลูกบาศ์ก K? การแผ่รังสี areawas ผิวพนันวัด ASAP2020 ใช้ N2adsorption ที่-196◦C Ramanspectra ถูกบันทึกไว้ใน Renishaw inVia รามัน microscopeusing กระตุ้นของ 632 นาโนเมตรแสงเลเซอร์ ส่ง electronmicroscopy (TEM) ภาพที่ได้รับใน JEM-100CX electronmicroscope สเปกตรัม XPS ได้รับโดย VG Multilab 2000 X-rayphotoelectron สเปกโตรมิเตอร์ใช้ Mg K? การฉายรังสีและ calibratedby อ้างอิงปกพลังงานคาร์บอนบังเอิญ (C1s284.6 eV) สะท้อนกระจาย UV-Vis-IR (DRUV-Vis-IR) absorptionspectra ถูกบันทึกไว้ใน spectrophotometer UV-3600 สเปกตรัม Photolu-minescence (PL) ถูกบันทึกไว้ที่อุณหภูมิห้องใน AQM / TM / NIR spectrofluorometer (PTI) โดยใช้ 337 นาโนเมตรและ 480 nmexcitation

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

2.2 . characterizationx เรย์ diffraction ( XRD ) พบว่ารูปแบบใน rigakudmax เอ็กซ์เรย์ดิฟแฟรกโทมิเตอร์โดยใช้ Cu K  รังสี พนันได้เลยว่าผิวทั้งวัด asap2020 ใช้ n2adsorption ที่− 196 ◦ C ramanspectra ที่ถูกบันทึกไว้ใน 10 invia รามัน microscopeusing การกระตุ้นของแก nm เลเซอร์แสงส่งด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( TEM ) ภาพที่ได้บน jem-100cx electronmicroscope . XPS Spectra ได้รับโดย VG multilab 2000 x-rayphotoelectron สเปกโตรมิเตอร์โดยใช้มิลลิกรัม K  รังสีและ calibratedby อ้างอิงพลังงานผูกพันกับปากดี คาร์บอน ( c1s284.6 EV ) กระจายสะท้อน UV และ IR ( druv Vis Vis ––– IR ) absorptionspectra ที่ถูกบันทึกไว้ใน uv-3600 วัสดุphotolu minescence Spectra ( PL ) ได้ถูกบันทึกไว้ ณอุณหภูมิห้องต่อ aqm / TM / NIR spectrofluorometer ( PTI ) โดยใช้ 337 nm และ 480 nmexcitation