Scanning electron microscope couple

Scanning electron microscope coupled with energy dispersive X-ray spectroscopy (SEM-EDS) was used to characterize their morphology.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนการสแกนด้วยพลังงาน dispersive เอกซเรย์ก (SEM EDS) ถูกใช้เพื่อกำหนดลักษณะสัณฐานวิทยาของพวกเขา

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดควบคู่ไปกับการกระจายพลังงานสเปกโทรสโกเอ็กซ์เรย์ (SEM-EDS) ถูกใช้ในการอธิบายลักษณะทางสัณฐานวิทยาของพวกเขา

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนคู่กับพลังงานรังสีเอกซ์กระจายตัวสเปกโทรสโกปี ( sem-eds ) ถูกใช้เพื่อแสดงลักษณะรูปร่างของพวกเขา