Scanning electron microscopy was co

Scanning electron microscopy was conducted using a NEON 40ESB, ZEISS to observe the microstructures and the fractured surfaces of samples. Specimens were coated with a thin layer of platinum before observation to avoid charging.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การสแกน microscopy อิเล็กตรอนถูกดำเนินโดยใช้ 40ESB แบบนีออน ZEISS สังเกต microstructures และผิว fractured อย่าง Specimens ถูกเคลือบ ด้วยชั้นบาง ๆ ของแพลทินัมก่อนสังเกตเพื่อหลีกเลี่ยงการชาร์จ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสแกนได้ดำเนินการโดยใช้นีออน 40ESB, ZEISS ที่จะสังเกตจุลภาคและพื้นผิวร้าวของกลุ่มตัวอย่าง ตัวอย่างที่ถูกเคลือบด้วยชั้นบาง ๆ ของทองคำก่อนที่จะสังเกตที่จะหลีกเลี่ยงการเรียกเก็บเงิน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดจำนวนนีออน 40esb Zeiss สังเกต , โครงสร้างและผิวแตกตัวอย่าง ทำการเคลือบด้วยชั้นบางของทองก่อนการสังเกตเพื่อหลีกเลี่ยงการชาร์จ