Using a 20 cm wafer, a defect densi

Using a 20 cm wafer, a defect density of 1 cm2, a of 3, and a wafer yield of 95% the following
table can be created by substituting these values into Equation 1 above

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ใช้แผ่นเวเฟอร์เป็น 20 ซม. ความหนาแน่นความบกพร่องของ 1 cm2, 3 และแผ่นเวเฟอร์เป็นผลผลิต 95% ต่อไปนี้สามารถสร้างตาราง โดยแทนค่าเหล่านี้ลงในสมการ 1 ข้างต้น

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

โดยใช้แผ่นเวเฟอร์ 20 ซม, ความหนาแน่นของข้อบกพร่องของ cm2 1, 3, และผลผลิตเวเฟอร์ 95% ต่อไปนี้
ตารางที่สามารถสร้างขึ้นโดยการแทนค่าเหล่านี้ลงไปในสมการที่ 1 ข้างต้น

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การใช้เวเฟอร์ 20 เซนติเมตร จากความหนาแน่นของ 1 ตร. ซม. , 3 และเวเฟอร์ ผลผลิตของ 95% ตารางต่อไปนี้
สามารถสร้างขึ้นโดยแทนลงในสมการที่ 1 ข้างบนค่า