2.3.3. Atomic force microscopy (AFM

2.3.3. Atomic force microscopy (AFM) analysis
Atomic force microscopy analysis was done by Veeco device (Auto
Probe-CP-Research, USA). The analysis was performed in contact
mode with the scanning speed of 2 Hz and a resolution of 256 × 256
and a silicon cantilever with a height of 10–15 μm and a diameter of
10 nm. The roughness parameters in terms of peak to valley distance
(Ra), mean roughness (Rm) and root mean square roughness (RRMS)
are calculated [43–46]. The mean roughness (Rm) and RMS roughness
(RRMS) are described as follows, respectively

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

2.3.3 วิเคราะห์แรงอะตอม microscopy (AFM)ทำการวิเคราะห์แรงอะตอม microscopy Veeco อุปกรณ์อัตโนมัติProbe-CP-Research สหรัฐอเมริกา) ทำการวิเคราะห์ในการติดต่อโหมดที่ มีความเร็วในการสแกนของ 2 Hz และความละเอียด 256 × 256และ cantilever ซิลิคอนกับความสูงของ μm 10 – 15 เส้นผ่าศูนย์กลางของ10 nm พารามิเตอร์ความหยาบในสูงสุดจะห่างจากหุบเขา(Ra), หมายถึง ความหยาบ (Rm) และรากความหยาบค่าเฉลี่ยกำลังสอง (RRMS)มีคำนวณ [43-46] ความหยาบช้า (Rm) และความหยาบ RMS(RRMS) ไว้ดังนี้ ตามลำดับ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

2.3.3 กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (AFM) การวิเคราะห์
การวิเคราะห์ผลบังคับใช้กล้องจุลทรรศน์ปรมาณูทำโดยอุปกรณ์วีโก้ (อัตโนมัติ
Probe-CP-วิจัยสหรัฐอเมริกา) การวิเคราะห์การดำเนินการในการติดต่อ
โหมดที่มีความเร็วในการสแกน 2 Hz และความละเอียด 256 × 256
และเท้าแขนซิลิกอนมีความสูงประมาณ 10-15 ไมโครเมตรและขนาดเส้นผ่านศูนย์กลาง
10 นาโนเมตร พารามิเตอร์ความหยาบในแง่ของยอดหุบเขาระยะทาง
(Ra) หมายถึงความหยาบ (RM) และรากหมายถึงตารางหยาบ (RRMS)
คำนวณ [43-46] ค่าเฉลี่ยความหยาบ (RM) และความหยาบกร้าน RMS
(RRMS) จะมีคำอธิบายดังต่อไปนี้ตามลำดับ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

2.3.3 . กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม ( AFM ) การวิเคราะห์
กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมวิเคราะห์ VEECO อุปกรณ์ ( สหรัฐอเมริการถยนต์
การวิจัย CP probe ) ผลจากการวิเคราะห์ในโหมดติดต่อ
กับความเร็วในการสแกน 2 Hz และความละเอียด 256 × 256
และสะพานซิลิคอน มีความสูง 10 – 15 เมตร และมีเส้นผ่าศูนย์กลางของμ
10 นาโนเมตร ค่าพารามิเตอร์ในแง่ของสู่หุบเขาระยะทาง
( RA )ค่าเฉลี่ยความหยาบ ( RM ) และรากหมายความว่าสี่เหลี่ยมจัตุรัสความหยาบ ( rrms )
คำนวณ [ 43 - 46 ] ค่าเฉลี่ย และค่าความขรุขระของผิว ( RM )
( rrms ) ได้อธิบายไว้ดังนี้ ตามลำดับ