X-ray diffraction (XRD) patterns of

X-ray diffraction (XRD) patterns of celluloses were analyzed using an X-ray diffractometer (D8 Advance, Bruker AXS, Germany) equipped with Cu-K radiation ( = 1.5418 A)˚ over the 2 range of
8–80◦. The crystallinity index (CI, %) was determined

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

รูปแบบการเลี้ยวเบนการเอ็กซ์เรย์ (XRD) ของ celluloses ได้วิเคราะห์โดยใช้การเอ็กซ์เรย์ diffractometer (D8 ล่วงหน้า Bruker AXS เยอรมนี) พร้อมรังสี Cu K (= 1.5418 A) ˚ช่วง 2 ของ8-80◦ กำหนดดัชนี crystallinity (CI %)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

X-ray diffraction (XRD) รูปแบบของการ celluloses ถูกวิเคราะห์โดยใช้มาตรการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ (D8 ล่วงหน้า Bruker AXS, เยอรมนี) พร้อมกับ Cu-K? รังสี (? = 1.5418) ˚กว่า 2 หรือไม่? ช่วงของ
8-80◦ ดัชนีผลึก (CI,%) ถูกกำหนด

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เครื่อง X-ray diffraction ( XRD ) รูปแบบของ celluloses วิเคราะห์โดยเอ็กซ์เรย์ดิฟแฟรกโทมิเตอร์ ( d8 ล่วงหน้า BRUKER ขวาน , เยอรมนี ) พร้อมกับ cu-k  รังสี (  = 1.5418 ) ˚มากกว่า 2  ช่วง
8 – 80 ◦ . ดัชนีความเป็นผลึก ( CI , % ) มุ่งมั่น