The EDX analysis of Pt-Au-OSi@CS co

The EDX analysis of Pt-Au-OSi@CS composites was possible to
determine the chemical composition of these composites [29]. The
HAADF STEM micrograph of Pt-Au-OSi@CS composite was shown
in Fig. 1D and the EDX analysis was performed at a point located
at the Pt-Au-OSi@CS composite (indicated by the arrow in Fig. 1D).
The corresponding EDX spectrum (Fig. 1E) revealed the presence of
Pt, Au, Si, O, C and N, and the weight percents were 19.35, 2.30, 9.32,
9.64, 59.37 and 0.02 wt.%, respectively. In Fig. 1E, the M peaks of Pt
and Au at 2.2 keV are very intense but highly overlapping, hence,
the elements cannot be resolved. But the lower intensity L peaks
are better separated at 9.4 keV for Pt and 9.7 keV for Au. The intense
peaks of Si, O, C and N were located at 1.7 keV, 0.5 keV, 0.3 keV
and 0.4 keV, respectively. It demonstrated that the Pt-Au-OSi@CS
composites were prepared successfully

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การวิเคราะห์เรื่องของคอมโพสิตของ Pt-Au-OSi@CS สามารถกำหนดองค์ประกอบทางเคมีของวัสดุผสมเหล่านี้ [29] ที่Micrograph ก้าน HAADF ของ Pt-Au-OSi@CS ที่แสดงFig. 1D และเรื่องที่ ทำการวิเคราะห์จุดอยู่ที่ส่วนประกอบ Pt-Au-OSi@CS (ตามลูกศรใน Fig. 1D)ก็เปิดเผยเกี่ยวข้องเรื่องสเปกตรัม (Fig. 1E)Pt, Au ศรี O, C และ N และเปอร์เซ็นต์น้ำหนักได้ 19.35, 2.30, 9.32wt.% 9.64, 59.37 และ 0.02 ตามลำดับ ใน Fig. 1E แห่ง M Ptและ Au ที่ 2.2 keV รุนแรงมากแต่สูงซ้อนทับกัน ดังนั้นองค์ประกอบไม่สามารถแก้ไข แต่ยอดความเข้มต่ำ Lจะดีกว่าแยกที่ 9.4 keV Pt และ 9.7 keV สำหรับ Au ที่รุนแรงยอดศรี O, C และ N มีอยู่ที่ 1.7 keV, 0.5 keV, 0.3 keVและ 0.4 keV ตามลำดับ มันแสดงให้เห็นว่าที่ Pt-Au-OSi@CSคอมโพสิตที่เตรียมเสร็จเรียบร้อยแล้ว

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การวิเคราะห์ EDX ของ PT-Au-OSI @ คอมโพสิต CS เป็นไปได้ที่จะ
ตรวจสอบองค์ประกอบทางเคมีของวัสดุผสมเหล่านี้ [29]
HAADF STEM Micrograph ของ PT-Au-OSI @ CS คอมโพสิตก็แสดงให้เห็น
ในรูป 1D และการวิเคราะห์ EDX ถูกดำเนินการที่จุดอยู่
ที่ PT-Au-OSI @ CS คอมโพสิต (แสดงโดยลูกศรในรูป. 1D).
สเปกตรัม EDX สอดคล้องกัน (รูป. 1E) เปิดเผยว่าการปรากฏตัวของ
Pt, Au, ศรี โอซีและยังไม่มีและน้ำหนักร้อยละ 19.35 มี, 2.30, 9.32,
9.64, 59.37 และ 0.02 โดยน้ำหนัก.% ตามลำดับ ในรูป 1E, ยอด M ของ Pt
และ Au ที่ 2.2 keV มีความรุนแรงมาก แต่ที่ทับซ้อนกันสูงดังนั้น
องค์ประกอบไม่สามารถแก้ไขได้ แต่ต่ำกว่าความเข้มยอด L
จะถูกแยกออกดีกว่าที่ 9.4 keV สำหรับ Pt และ 9.7 keV สำหรับ Au รุนแรง
ยอดของ Si, O, C และ n ตั้งอยู่ที่ 1.7 keV 0.5 keV 0.3 keV
และ 0.4 keV ตามลำดับ มันแสดงให้เห็นว่า PT-Au-OSI @ CS
คอมโพสิตที่ได้จัดทำเสร็จเรียบร้อยแล้ว

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การวัดการวิเคราะห์ PT หรือ OSI @ CS คอมโพสิทเป็นไปได้

หาองค์ประกอบทางเคมีของวัสดุพวกนี้ [ 29 ]
haadf ลำต้นลักษณะของ PT หรือ OSI @ CS ประกอบแสดงในรูป
1D และการวิเคราะห์การวัดแสดงที่จุดอยู่
ที่ PT หรือ OSI @ CS คอมโพสิต ( แสดงโดยลูกศรในรูป 1D )
( รูปการวัดสเปกตรัมที่ 1e ) เปิดเผยการปรากฏตัวของ
PT , หรือ , ศรี , O ,C และ N , และมีน้ำหนักร้อยละ 19.35 , 2.30 6
59.37 9.64 , , , และ 0.02 โดยน้ำหนัก ตามลำดับ ในรูปที่ 1e , M ยอดของ PT
และ AU ที่ 2.2 เคฟจะหนาแน่นมากแต่ขอซ้อนจึง
องค์ประกอบที่ไม่สามารถแก้ไขได้ แต่ลดความเข้มผมหุบ
ดีกว่าแยกที่ 9.4 เคฟสำหรับ PT และ 9.7 เคฟสำหรับ AU เข้ม
ยอดศรี , O , C และ N อยู่ที่ 1.7 เคฟ 0.5 0.3 เคฟ
เคฟเคฟ และ 0.4 ตามลำดับ มันแสดงให้เห็นว่า PT หรือ OSI @ CS
คอมเตรียมไว้เรียบร้อยแล้ว