Scanning electron microscopy(SEM)SE

Scanning electron microscopy(SEM)
SEM micrographs of previously untreated grape pomace samples, after heat treatment at 35 ◦C for 60 min,and after ultrasound
treatment during 60 min at 35 ◦C, were obtained with a Hitachi
S-3400N (Japan) scanning electron microscope at an accelerating
voltage of 10 kV.Samples were directly observed,without further
treatment, under a pressure of 40 Pa.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การสแกน microscopy(SEM) อิเล็กตรอนMicrographs SEM ตัวอย่างองุ่น pomace ก่อนหน้านี้ไม่ถูกรักษา รักษาความร้อนที่ 35 ◦C สำหรับ 60 นาที และหลัง จากอัลตร้าซาวด์รักษาในช่วง 60 นาทีที่ 35 ◦C ได้รับกับฮิตาชิกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนการสแกน S-3400N (ญี่ปุ่น) ที่มีการเร่งแรง 10 kV.Samples ตรงสุภัค โดยไม่ต้องเพิ่มเติมรักษา ภายใต้ความดัน 40 Pa.

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสแกน (SEM)
SEM ไมโครองุ่นก่อนหน้านี้ได้รับการรักษาตัวอย่างกากหลังจากการรักษาความร้อนที่ 35 ◦C 60
นาทีและหลังจากการอัลตราซาวนด์การรักษาในช่วง60 นาทีที่ 35 ◦Cได้รับกับฮิตาชิ
S-3400N (ญี่ปุ่น) สแกน
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนที่เร่งแรงดันไฟฟ้า10 kV.Samples
ถูกตั้งข้อสังเกตโดยตรงโดยไม่ต้องต่อการรักษาภายใต้แรงกดดันจาก40 ต่อปี

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM )
SEM micrographs ตัวอย่างองุ่นดิบเคยกาก หลังเผาที่อุณหภูมิ 35 ◦ C นาน 60 นาที และหลังจากอัลตราซาวด์
รักษาในระหว่าง 60 นาทีที่ 35 ◦ C ได้ด้วย
s-3400n ฮิตาชิ ( ญี่ปุ่น ) กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนที่เร่ง
แรงดัน 10 กิโล ตัวอย่างคือ สังเกตได้โดยตรง โดยไม่มีการรักษาเพิ่มเติม
ภายใต้ความดัน 40 .