The surface, speculated to contain

The surface, speculated to contain aluminum oxide and organic residue left behind from the polishing process, was characterized with scanning elelctron microscopy, surface contact profilometry, and ellipsometry.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

พื้นผิว การคาดการณ์ที่มีอลูมิเนียมออกไซด์และอินทรีย์สารตกค้างที่เหลืออยู่หลังจากกระบวนการขัด มีลักษณะ มีการสแกน elelctron microscopy ผิวติดต่อ profilometry และ ellipsometry

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

พื้นผิวที่สันนิษฐานว่าจะมีอลูมิเนียมออกไซด์และสารตกค้างอินทรีย์ทิ้งจากกระบวนการขัดก็มีลักษณะที่มีการใช้กล้องจุลทรรศน์สแกน elelctron ติดต่อ profilometry พื้นผิวและ ellipsometry