Microstructural observations were c

Microstructural observations were conducted on some specimens carefully polished with colloidal SiO2 powder
(40 nm in diameter) using a conventional SEM and electron backscatter diffraction (EBSD) pattern analysis equipped
with FE-SEM (JEOL-JSM-6500F) with TexSEM Laboratories-OIM software.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

สังเกตจุลภาคได้ดำเนินการบนบางอย่างที่ขัด ด้วยผง SiO2 colloidal อย่างระมัดระวัง(40 นาโนเมตรเส้นผ่านศูนย์กลาง) ใช้ SEM ธรรมดาและอิเล็กตรอนกระจายแสงกระจายกลับ (EBSD) รูปแบบวิเคราะห์การติดตั้งมี FE-SEM (JEOL JSM 6500F) กับ TexSEM ห้องปฏิบัติการ-OIM ซอฟต์แวร์

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

สังเกตจุลภาคได้ดำเนินการในบางตัวอย่างระมัดระวังขัดด้วยผงคอลลอยด์ SiO2
(40 นาโนเมตรในเส้นผ่าศูนย์กลาง) โดยใช้ SEM และอิเล็กตรอนแบบแสงสะท้อนเลนส์ (EBSD) การวิเคราะห์รูปแบบเดิมติดตั้ง
กับ FE-SEM (JEOL-JSM-6500F) กับซอฟต์แวร์ TexSEM ห้องปฏิบัติการ OIM .

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

สังเกตโครงสร้างจุลภาคได้ดำเนินการในบางตัวอย่างรอบคอบ ขัดด้วยผงซิลิกาคอลลอยด์( 40 nm ในเส้นผ่าศูนย์กลาง ) โดยใช้การเลี้ยวเบนของอิเล็กตรอน ( SEM แบบกระเจิงกลับ ebsd ) ผลการวิเคราะห์พร้อมกับ fe-sem ( jeol-jsm-6500f ) กับห้องปฏิบัติการ texsem oim ซอฟต์แวร์