Fig. 2. Distribution of elements ov

Fig. 2. Distribution of elements over coating depth shown by XPS sputter profiles (a) coating
system produced by process path A, (b) coating system produced by process path B.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

รูป 2 การกระจายขององค์ประกอบผ่านความลึกสีที่แสดง โดย XPS sputter โปรไฟล์สี (a)ระบบผลิต โดยกระบวนการเส้นทาง A, (ข) ระบบเคลือบสีผลิต โดยกระบวนการเส้นทาง b

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

มะเดื่อ. 2. การกระจายตัวขององค์ประกอบมากกว่าความลึกเคลือบแสดงโดย XPS ปะทุโปรไฟล์ (ก) การเคลือบ
ระบบผลิตโดยเส้นทางกระบวนการ (ข) ระบบการเคลือบที่ผลิตโดยกระบวนการเส้นทางบี

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

รูปที่ 2 การกระจายของธาตุมากกว่าการเคลือบความลึกแสดงโดย XPS ละล่ำละลักโปรไฟล์ ( ) เคลือบระบบที่ผลิตโดยกระบวนการเส้นทาง ( ข ) ระบบเคลือบที่ผลิตโดยกระบวนการเส้นทาง B