high resolution scanning electron m

high resolution scanning electron microscope (SEM) that uses a Schottky-type field-emission electron source. A beam booster is used to optimise electron optical performance at all accelerating voltages. In addition, the optical column has no crossovers and utilises a magnetic/electrostatic objective lens to minimise beam imperfections at low voltage by reducing chromatic aberration.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ความละเอียดสูงกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM) ที่ใช้เป็นแหล่งการปล่อยอิเล็กตรอน Schottky ชนิด บูสเตอร์ลำแสงที่จะใช้ในการเพิ่มประสิทธิภาพประสิทธิภาพเลนส์อิเล็กตรอนทั้งหมดเร่งแรงดันไฟฟ้า นอกจากนี้ คอลัมน์แสงมีไม่ crossovers และใช้เลนส์ใกล้วัตถุแม่เหล็กและไฟฟ้าสถิตเพื่อลดความไม่สมบูรณ์ของลำแสงที่แรงดันต่ำ โดยการลดความคลาดเคลื่อน

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ความละเอียดสูงกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) ที่ใช้กีชนิดข้อมูลแหล่งปล่อยอิเล็กตรอน A Booster ลำแสงจะถูกนำมาใช้เพื่อเพิ่มประสิทธิภาพของอิเล็กตรอนประสิทธิภาพแสงที่แรงดันไฟฟ้าเร่งทั้งหมด นอกจากนี้คอลัมน์แสงไม่มีไขว้และใช้ A / ไฟฟ้าสถิตเลนส์ใกล้วัตถุแม่เหล็กเพื่อลดความไม่สมบูรณ์ของลำแสงที่แรงดันไฟฟ้าต่ำโดยการลดความผิดเพี้ยนของสี

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ความละเอียดสูงกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) ที่ใช้ในการปล่อยอิเล็กตรอนท์ชนิดเขตข้อมูลแหล่งที่มา คาน Booster เพิ่มประสิทธิภาพใช้แสงอิเล็กตรอนทั้งหมด ) นั้น นอกจากนี้ ช่องแสงและไม่ทำให้ใช้เลนส์วัตถุประสงค์ไฟฟ้าสถิตแม่เหล็กเพื่อลดข้อบกพร่อง บีมที่แรงดันต่ำโดยการลดความคลาดสี .