Sample preparation for Scanning ele

Sample preparation for Scanning electron microscopy (SEM)
SEM is primarily useful for giving a three‐dimensional image of the surface of the
specimen and is for viewing large objects.

As with TEM, specimens are imaged with a beam of electrons, but instead of the
electrons being transmitted through the specimen, the beam is "scanned" across,
creating an image of the surface of the sample, with exceptional depth of field. This
image is achieved via the detection of "secondary" electrons that are released from the
specimen as a result of it being scanned by very high energy "primary" electrons (ie.
those emitted from the electron "gun" in the SEM). As most biological specimens are
made up of non‐dense material the amount of secondary electrons produced is too low
to be of much use in creating an image and therefore they are usually coated with a very
fine layer of a metal which readily produces secondary electrons. The large depth of field
achievable can produce an image of great visual depth with a three‐dimensional
appearance.

The operating environment of a standard scanning electron microscope dictates that
specialist preparation techniques are used. Typically, a biological specimen is
chemically fixed, dehydrated through an acetone or ethanol series and then dried at the
critical point ‐ a method used to minimize specimen distortion due to drying tensions.
For dry samples, this process is not necessary. SEM can also be used to investigate
smooth surfaces of industrial samples.

The samples are mounted on a stub of metal with adhesive, coated with 40 ‐ 60 nm of
metal such as Gold/Palladium and then observed in the microscope.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

เตรียมตัวอย่างสำหรับการสแกน microscopy อิเล็กตรอน (SEM)SEM มีประโยชน์หลักให้รูป three‐dimensional ของพื้น ตัวอย่างและสำหรับการดูวัตถุที่มีขนาดใหญ่ ตาม ด้วยยการ imaged ไว้เป็นตัวอย่าง ด้วยลำแสง ของอิเล็กตรอน แต่แทน อิเล็กตรอนที่ถูกส่งผ่านในสิ่งส่งตรวจ คานเป็น "สแกน" ข้าม สร้างภาพของพื้นผิวของตัวอย่าง ความลึกของฟิลด์ยอดเยี่ยม นี้ รูปภาพสามารถทำได้ผ่านการตรวจพบอิเล็กตรอน "รอง" ที่ปล่อยออกมาจากการ ตัวอย่างผลจะถูกสแกน ด้วยพลังงานสูงอิเล็กตรอน (ie "หลัก" ที่เปล่งออกมาจากอิเล็กตรอน "ปืน" ใน SEM) เป็นไว้เป็นตัวอย่างทางชีวภาพมากที่สุด ทำขึ้น จากวัสดุ non‐dense จำนวนอิเล็กตรอนรองผลิตจะต่ำเกินไป มีของมาก ใช้ในการสร้างภาพ และดังนั้น พวกเขาจะมักจะเคลือบด้วยเป็นมาก ชั้นดีของโลหะซึ่งพร้อมให้อิเล็กตรอนสอง ระยะชัดลึกของเขตข้อมูล ทำได้สามารถสร้างภาพของความลึกของภาพดีด้วย three‐dimensional ลักษณะที่ปรากฏ สภาพแวดล้อมการทำงานของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนของการสแกนมาตรฐานบอกที่ มีใช้เทคนิคเตรียมสอบผู้เชี่ยวชาญ โดยปกติ เป็นตัวอย่างทางชีวภาพ สารเคมีคง อบแห้งผ่านการชุดอะซิโตนหรือเอทานอล และอบแห้งในตัว ‐จุดสำคัญวิธีการที่ใช้เพื่อลดความผิดเพี้ยนของสิ่งส่งตรวจเนื่องจากแห้งตึงเครียด สำหรับตัวอย่างแห้ง กระบวนการนี้จะไม่จำเป็น SEM ใช้การตรวจสอบ พื้นผิวที่เรียบของตัวอย่างอุตสาหกรรม ตัวอย่างติดตั้งอยู่บนขั้วโลหะด้วยกาว เคลือบ ด้วย 40 ‐ 60 นิวตันเมตร โลหะเช่นทอง/พาลาเดียมแล้ว สังเกตในกล้องจุลทรรศน์

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การจัดทำตัวอย่างสำหรับกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสแกน (SEM)
SEM เป็นประโยชน์หลักสำหรับการให้ภาพสามมิติของพื้นผิวของ
ชิ้นงานและเป็นที่สำหรับการดูวัตถุขนาดใหญ่. เช่นเดียวกับ TEM ตัวอย่างมีการถ่ายภาพด้วยลำแสงของอิเล็กตรอน แต่แทนที่จะอิเล็กตรอนที่ถูกส่งผ่านตัวอย่างคานคือ "สแกน" ข้ามการสร้างภาพของพื้นผิวของตัวอย่างมีความลึกที่โดดเด่นของสนาม นี้ภาพจะประสบความสำเร็จผ่านการตรวจสอบของ "รอง" อิเล็กตรอนที่ถูกปล่อยออกจากชิ้นงานที่เป็นผลของมันถูกสแกนโดยใช้พลังงานสูงมาก "หลัก" อิเล็กตรอน (เช่น. ผู้ที่ปล่อยออกมาจากอิเล็กตรอน "ปืน" ใน SEM) ในฐานะที่เป็นตัวอย่างทางชีวภาพส่วนใหญ่จะสร้างขึ้นจากวัสดุที่ไม่หนาแน่นปริมาณของอิเล็กตรอนรองผลิตต่ำเกินไปที่จะใช้มากในการสร้างภาพและดังนั้นพวกเขาจะถูกเคลือบมักจะมีมากชั้นดีของโลหะที่พร้อมผลิตอิเล็กตรอนทุติยภูมิ ความลึกขนาดใหญ่ของสนามทำได้สามารถผลิตภาพของความลึกของภาพที่ดีกับสามมิติลักษณะ. สภาพแวดล้อมการทำงานของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดมาตรฐานบอกว่าเทคนิคการเตรียมผู้เชี่ยวชาญจะใช้ โดยปกติตัวอย่างทางชีวภาพคงเคมีแห้งผ่านชุดอะซิโตนหรือเอทานอลและอบแห้งแล้วที่จุดสำคัญ -. วิธีการที่ใช้ในการลดการบิดเบือนตัวอย่างอันเนื่องมาจากความตึงเครียดในการอบแห้งสำหรับตัวอย่างแห้งขั้นตอนนี้ไม่จำเป็น SEM ยังสามารถใช้ในการตรวจสอบพื้นผิวเรียบของกลุ่มตัวอย่างอุตสาหกรรม. ตัวอย่างติดตั้งอยู่บนต้นขั้วของโลหะด้วยกาวเคลือบด้วย 40 - 60 นาโนเมตรของโลหะเช่นทอง / แพลเลเดียมและสังเกตเห็นแล้วในกล้องจุลทรรศน์

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การเตรียมตัวอย่างสำหรับกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM )
SEM เป็นประโยชน์หลักเพื่อให้ภาพ 3 มิติ‐ของพื้นผิวของตัวอย่างและ
สำหรับการดูวัตถุขนาดใหญ่

มีแบบตัวอย่าง , ภาพลักษณ์ของลำแสงอิเล็กตรอน แต่แทนที่จะ
อิเล็กตรอนถูกส่งผ่านชิ้นงานคาน " สแกน " ข้าม
การสร้างภาพของพื้นผิวของตัวอย่างมีความลึกที่ยอดเยี่ยมของเขตข้อมูล ภาพนี้
ได้ผ่านการตรวจสอบของ " อิเล็กตรอนทุติยภูมิ " ที่ถูกปล่อยออกมาจาก
ตัวอย่างเป็นผลจากการสแกนด้วย " หลัก " อิเล็กตรอนพลังงานสูงมาก ( เช่น
เหล่านั้นออกมาจากอิเล็กตรอน " ปืน " ใน SEM ) เช่นตัวอย่างทางชีวภาพส่วนใหญ่จะไม่‐
ขึ้นหนาแน่นวัสดุปริมาณของอิเล็กตรอนที่ผลิตระดับต่ำเกินไป
จะมากที่ใช้ในการสร้างภาพ และดังนั้น พวกเขามักเคลือบด้วยมาก
ดีชั้นของโลหะที่พร้อมผลิตอิเล็กตรอนทุติยภูมิ ความลึกขนาดใหญ่ของเขต
ได้สามารถผลิตภาพของความลึกของภาพ 3 มิติที่ยอดเยี่ยม ด้วย‐
ลักษณะ

การดำเนินงานสิ่งแวดล้อมของมาตรฐานกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนซึ่ง
เทคนิคการเตรียมผู้เชี่ยวชาญจะใช้ โดยทั่วไปแล้ว ตัวอย่างทางชีวภาพคือ
เคมีคงแห้งด้วยอะซิโตน หรือเอทานอลและชุดแห้งณจุดวิกฤติ‐
วิธีใช้เพื่อลดการแห้งตัวเนื่องจากความตึงเครียด
ตัวอย่างแห้ง ขั้นตอนนี้ไม่จําเป็น นี้ยังสามารถใช้เพื่อตรวจสอบ
เรียบพื้นผิวของตัวอย่างอุตสาหกรรม

ตัวอย่างติดตั้งบนโครงโลหะเคลือบด้วยกาว กับ 40 ‐ 60 nm ของ
โลหะเช่นทอง / แพลเลเดียมและจากนั้นตรวจสอบในกล้องจุลทรรศน์