2.7. Scanning electronic microscopy (SEM)
In order to evaluate the structural changes of banana slices
by the different drying methods and better understand the
mechanism of water transport during drying, electron microscopy
studies of the cross section of dried banana samples were
performed. Selected dried banana samples were carefully cut
using sharp razor blades (Feather, Ted Pella, Inc., Redding,
CA) to expose a fresh cut surface of the cross section. Specimens
were mounted onto aluminum stubs using double-coated
carbon tabs (Ted Pella, Inc., Redding, CA), sputter-coated
with gold-palladium using a Denton Desk II sputter coating
unit (Denton Vacuum, Moorestown, NJ) and photographed
in a Hitachi S-4700 field emission scanning electron microscope
(Hitachi, Japan) at 2 kV. Digital images were captured
at 1280 960 pixel resolution with 40 of magnification
2.7 . การสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กทรอนิกส์ ( SEM )
เพื่อประเมินการเปลี่ยนแปลงโครงสร้างของชิ้นกล้วย
โดยวิธีการทำแห้งที่แตกต่างกันและเข้าใจกลไกของการลำเลียงน้ำระหว่างการอบแห้ง
,
) กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนของข้ามส่วนของตัวอย่างแห้งกล้วยถูก
แสดง เลือกตัวอย่างแห้งกล้วยถูกตัดอย่างระมัดระวัง
ใช้มีดโกนคม ( ขนนก , เท็ด เพลลา อิงค์เรดดิง
CA ) เพื่อแสดงสดตัดพื้นผิวของส่วนข้าม ตัวอย่าง
ติดบนอลูมิเนียมในการใช้แท็บเคลือบคาร์บอน
คู่ ( เท็ดเพลลา , อิงค์ , เรดดิง แคลิฟอร์เนีย ) , พูดละล่ำละลัก เคลือบด้วยทองแพลเลเดียมใช้ Denton
24 ชั่วโมง 2 ละล่ำละลักเคลือบผิว
( Denton สุญญากาศ มัวร์สทาวน์ , NJ ) และถ่ายภาพ
ใน Hitachi s-4700 ฟิลด์การสแกน
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ( Hitachi , ญี่ปุ่น ) ที่ 2 KV .ภาพดิจิตอลที่ถูก 960 พิกเซลความละเอียดที่ 1280
40 ของแว่นขยาย
การแปล กรุณารอสักครู่..