Double-mode operation and fast piez

Double-mode operation and fast piezo fine tuning properties of a gain chip on a thermoelectric cooler in
an external cavity are investigated. A widely course double-mode tuning range of 120 nm for the spectral
range between 1470 and 1590 nm is achieved by rotating the diffraction gratings forming a double
Littrow-type configuration. A fast piezo fine tuning range over −7 cm 1 (1.5 nm, 210 GHz) in a single-mode
operation is obtained by scanning the external cavity length with scan rates up to 0.5 kHz.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

สองโหมดการทำงานและปรับปรับคุณสมบัติของชิกำไรบนเครื่องทำความเย็นแบบเทอร์โมอิเล็กทริกส์ในรวดเร็ว piezoมีโพรงภายนอกจะดำเนินการตรวจสอบ A แพร่หลายหลักสูตรที่หลากหลายปรับแต่งโหมดคู่ 120 นิวตันเมตรที่สเปกตรัมช่วงระหว่าง 1470 และ 1590 nm สามารถทำได้ โดยการหมุนทำความสะอาดการกระจายรูปคู่การกำหนดค่าชนิด Littrow Piezo รวดเร็วปรับจูนช่วง −7 cm 1 (1.5 nm, 210 GHz) ในโหมดเดี่ยวได้รับการทำงาน โดยการสแกนช่องภายนอก แกนยาวราคาถึง 0.5 kHz

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

โหมดการทำงานสองครั้งและ Piezo รวดเร็วปรับแต่งคุณสมบัติของชิปกำไรจากการเย็นเทอร์โมใน
โพรงภายนอกจะถูกตรวจสอบ มีสนามกันอย่างแพร่หลายคู่โหมดการปรับแต่งช่วง 120 นาโนเมตรสำหรับสเปกตรัม
ช่วงระหว่าง 1470 และ 1590 นาโนเมตรจะประสบความสำเร็จโดยการหมุน gratings เลนส์กลายเป็นคู่
การกำหนดค่า Littrow ชนิด Piezo อย่างรวดเร็วช่วงปรับจูนมากกว่า -7 ซม. 1 (1.5 นาโนเมตร 210 GHz) ในโหมดเดียว
การดำเนินงานที่จะได้รับโดยการสแกนความยาวโพรงภายนอกที่มีอัตราการสแกนสูงสุดถึง 0.5 เฮิร์ทซ์

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การดำเนินงานโหมดคู่และรวดเร็ว Piezo ปรับคุณสมบัติของชิปที่ได้รับใน เทอร์โม เย็นในเป็นโพรงภายนอกได้ อย่างกว้างขวาง หลักสูตรคู่โหมดปรับช่วง 120 nm สำหรับสเปกตรัมและช่วงระหว่าง 1 เดือน nm ได้โดยการหมุนเลนส์ตะแกรงขึ้นรูปคู่การตั้งค่าประเภท littrow . เป็น Piezo อย่างรวดเร็วปรับช่วงมากกว่า− 7 ซม. 1 ( 1.5 nm , 210 GHz ) ในแอพพลิเคชั่นใช้งานได้จากการสแกนความยาวโพรงภายนอก ด้วยการสแกนเพิ่มขึ้น 0.5 กิโลเฮิร์ทซ์