As noted earlier, electron beam tec

As noted earlier, electron beam techniques such as SEM
and electron probe rely on the material being exposed at
the surface. For some materials this is not practical,
either because of the time required, the need to avoid
chemical contamination of the inclusion that could
occur during polishing, or because the material is rare
and cannot undergo destructive preparation procedures.
Infrared spectroscopy could in some cases be used to
identify mineral inclusions, but would require doublepolished
wafers that are often impractical to prepare.
Synchrotron-based X-ray fluorescence methods have been
applied to mineral inclusions in diamonds (e.g. Brenker
et al, 2007), but are not feasible for routine work.2

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

เป็นกล่าวก่อนหน้านี้ เทคนิคแสงอิเล็กตรอนเช่น SEMและโพรบอิเล็กตรอนอาศัยวัสดุที่ถูกเปิดเผยในพื้นผิว สำหรับวัสดุบางอย่าง ไม่จริงอย่างใดอย่างหนึ่ง เพราะเวลาต้องใช้ จำเป็นต้องหลีกเลี่ยงปนเปื้อนสารเคมีของการรวมที่สามารถเกิดขึ้นในระหว่างการขัด หรือเนื่องจากวัสดุหายากและไม่สามารถผ่านขั้นตอนการเตรียมการทำลายกอินฟราเรดสามารถในบางกรณีใช้ระบุแร่รวม แต่ต้อง doublepolishedรับที่มักมากในการเตรียมใช้ synchrotron วิธี fluorescence เอกซเรย์ได้ใช้การรวมแร่ในเพชร (เช่น Brenkeret al, 2007), แต่ไม่เป็นไปได้สำหรับ work.2 ประจำ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ดังที่ระบุไว้ก่อนหน้านี้เทคนิคลำแสงอิเล็กตรอนเช่น SEM และหัววัดอิเล็กตรอนพึ่งพาวัสดุที่ถูกสัมผัสที่พื้นผิว สำหรับวัสดุบางอย่างนี้ไม่ได้ในทางปฏิบัติอย่างใดอย่างหนึ่งเพราะเวลาที่ต้องจำเป็นที่จะต้องหลีกเลี่ยงการปนเปื้อนสารเคมีของการรวมที่อาจเกิดขึ้นในระหว่างการขัดหรือเพราะวัสดุที่หายากและไม่สามารถผ่านขั้นตอนการเตรียมการทำลาย. สเปกโทรสโกอินฟาเรดสามารถในบางกรณีเป็น ที่ใช้ในการระบุการรวมแร่ธาตุแต่จะต้อง doublepolished เวเฟอร์ที่มักจะทำไม่ได้เพื่อเตรียมความพร้อม. ซินโครตามวิธีการ X-ray fluorescence ได้รับนำไปใช้กับการรวมแร่เพชร(เช่น Brenker et al, 2007) แต่ไม่เป็นไปได้สำหรับการทำงานประจำ 0.2

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ตามที่ระบุไว้ก่อนหน้านี้ ลำแสงอิเล็กตรอนเทคนิคเช่น SEM
และอิเล็กตรอนโพรบพึ่งพาวัสดุถูกเปิดเผยที่
พื้นผิว สำหรับวัสดุบาง นี้ไม่ได้เป็นในทางปฏิบัติ
เหมือนกัน เพราะเวลาที่ต้องหลีกเลี่ยงการปนเปื้อนทางเคมีของการ

ที่อาจเกิดขึ้นระหว่างการขัด หรือ เพราะเป็นวัสดุที่หายากและไม่สามารถผ่านขั้นตอนการเตรียม

ชอบทำลายอินฟราเรดสเปกโทรสโกปีในบางกรณีจะใช้
ระบุรวมแร่ แต่จะต้องมี doublepolished
เวเฟอร์ที่มักจะไม่ได้เตรียม .
พลิกลิ้นตามวิธีการเรืองรังสีเอกซ์ได้ถูก
ใช้มลทินแร่เพชร ( เช่น brenker
et al , 2007 ) แต่ไม่สามารถทำงานได้ตามปกติ 2 .