Changing the scan rate or ac amplit

Changing the scan rate or ac amplitude has a large effect on calibration, as shown in Fig. 5. Note that the scan rate was altered by changing the scan time while keeping the start and end frequencies constant. Thus, a longer scan time will correspond to a slower scan rate. The slope obtained in the final correction step decreases nonlinearly with increasing scan time, and the intercept correspondingly increases. This can be accounted for by considering the amount of time each ion is at resonance during the scan, which increases with scan time for a constant start and end frequency, resulting in more rapid ejection relative to the length of the scan. Both curves level out because further increasing the amount of time that each ion is at resonance does not change the ejection time relative to the scan time (i.e. the optimum resonance time has already been attained). The slope and intercept decrease and increase, respectively, in an approximately linear fashion (Fig. 5(b)) when the ac amplitude increases. This result is the direct consequence of ions being ejected more swiftly when the ac amplitude is high. Fortunately, this can be automatically accounted for in the mass calibration algorithm by inputting the ac amplitude as a variable. Since the relationship between slope/intercept and ac amplitude is linear, a second correction slope and intercept may be incorporated.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การเปลี่ยนอัตราการสแกนหรือ ac คลื่นมีผลต่อการสอบเทียบ ขนาดใหญ่ดังแสดงในรูปที่ 5 หมายเหตุว่า มีการเปลี่ยนแปลงอัตราการสแกน โดยการเปลี่ยนเวลาการสแกนในขณะที่รักษาความถี่เริ่มต้นและสิ้นสุดที่คง ดังนั้น เวลาสแกนนานขึ้นจะสอดคล้องกับอัตราสแกนช้าลง ความชันที่ได้รับในขั้นสุดท้ายการแก้ไขลด nonlinearly กับเพิ่มเวลาการสแกน และการตัดเพิ่มขึ้นตามลำดับ นี้สามารถจะลงบัญชี โดยพิจารณาระยะเวลาที่แต่ละไอออนอยู่ที่เรโซแนนซ์ในระหว่างการสแกน ซึ่งเพิ่มขึ้นกับเวลาสแกนสำหรับการคงที่เริ่มต้นและสิ้นสุดความถี่ ผลออกเร็วกว่าความยาวของแกน เส้นโค้งทั้งสองระดับออกได้เนื่องจากการ เพิ่มปริมาณของเวลาที่แต่ละไอออนอยู่ที่เรโซแนนซ์เปลี่ยนเวลาดีดเทียบกับแกนเวลา (เช่นเวลาเสียงสะท้อนที่เหมาะสมได้แล้วได้บรรลุ) ความชันและจุดตัดแกนลด และ เพิ่ม ตามลำดับ ในแฟชั่นประมาณเชิงเส้น (รูป 5(b)) เมื่อคลื่น ac เพิ่ม ผลเป็นผลโดยตรงของไอออนที่ปล่อยออกมามากขึ้นอย่างรวดเร็วเมื่อคลื่น ac สูง โชคดี นี้สามารถสามารถโดยอัตโนมัติคิดในอัลกอริทึมมวล โดยป้อนคลื่น ac เป็นตัวแปร ตั้งแต่ความสัมพันธ์ระหว่างคลื่นลาด/ตัดและ ac เป็นเส้นตรง อาจรวมการแก้ไขสองชันและจุดตัดแกน

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การเปลี่ยนอัตราหรือ AC สแกนกว้างมีผลอย่างมากต่อการสอบเทียบดังแสดงในรูป 5. หมายเหตุว่าอัตราการสแกนมีการเปลี่ยนแปลงโดยการเปลี่ยนเวลาสแกนขณะที่การรักษาเริ่มต้นและสิ้นสุดความถี่คงที่ ดังนั้นเวลาสแกนจะไม่สอดคล้องกับอัตราการสแกนช้าลง ความลาดชันที่ได้รับในขั้นตอนการแก้ไขครั้งสุดท้ายลดลง nonlinearly กับเพิ่มเวลาการสแกนและตัดตามลําดับเพิ่ม นี้สามารถคิดโดยพิจารณาจากระยะเวลาที่แต่ละไอออนที่เสียงสะท้อนในระหว่างการสแกนที่เพิ่มขึ้นด้วยเวลาสแกนคงที่เริ่มต้นและสิ้นสุดความถี่ผลในการออกมาอย่างรวดเร็วมากขึ้นเมื่อเทียบกับระยะเวลาของการสแกน ทั้งสองเส้นโค้งระดับออกเพราะต่อการเพิ่มจำนวนของเวลาว่าแต่ละไอออนที่เสียงสะท้อนไม่เปลี่ยนเวลาออกเมื่อเทียบกับเวลาสแกน (เช่นเวลาเสียงสะท้อนที่ดีที่สุดได้รับการบรรลุแล้ว) ความลาดชันและตัดลดลงและเพิ่มขึ้นตามลำดับในแบบเชิงเส้นโดยประมาณ (รูปที่ 5. (ข)) เมื่อ AC กว้างเพิ่มขึ้น ผลที่ได้นี้เป็นผลโดยตรงของไอออนที่ถูกขับออกมามากขึ้นอย่างรวดเร็วเมื่อความกว้าง AC อยู่ในระดับสูง โชคดีที่นี้สามารถนำมาใช้โดยอัตโนมัติในขั้นตอนวิธีการสอบเทียบมวลโดยป้อนกว้าง AC เป็นตัวแปร ตั้งแต่ความสัมพันธ์ระหว่างความลาดชัน / ตัดและ AC กว้างเป็นเชิงเส้นลาดแก้ไขสองและตัดอาจจะรวม

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การเปลี่ยนแปลงอัตราการสแกนหรือ AC ขนาดมีผลกระทบมากต่อการสอบเทียบ ดังแสดงในรูปที่ 5 โปรดทราบว่าอัตราการสแกนถูกเปลี่ยนแปลงโดยการสแกนเวลาในขณะที่การรักษาเริ่มต้นและสิ้นสุดที่ความถี่คงที่ ดังนั้น เวลาจะสอดคล้องกับแกนยาวช้าลงอัตราการสแกน . ความลาดชันที่ได้ในขั้นตอนการแก้ไขขั้นสุดท้ายลดลง nonlinearly ที่มีการสแกนเวลาและสกัดกั้นดับเพิ่มขึ้น นี้สามารถคิดโดยพิจารณาระยะเวลาแต่ละไอออนที่เรโซแนนซ์ในการสแกนสแกนที่เพิ่มขึ้นกับเวลาเริ่มต้นและสิ้นสุดคงที่ความถี่ให้มากขึ้นอย่างรวดเร็วหดตัวเมื่อเทียบกับความยาวของการสแกน ทั้งสองโค้งระดับออกเพราะเพิ่มเติม เพิ่มปริมาณของเวลาที่แต่ละไอออนเป็นเสียงสะท้อนที่ไม่ได้เปลี่ยนเวลาออก เทียบกับเวลา ( เช่นเวลาสแกนเรโซแนนซ์ที่เหมาะสมได้บรรลุ ) ความชัน และขัดขวางการเพิ่มขึ้น และลดลงตามลำดับในแฟชั่นประมาณแบบเชิงเส้น ( ภาพที่ 5 ( B ) เมื่อ AC ขนาดเพิ่มขึ้น นี้เป็นผลพวงโดยตรงของไอออนที่ถูกปล่อยออกมามากขึ้นอย่างรวดเร็วเมื่อค่า AC สูง โชคดีที่นี้สามารถโดยอัตโนมัติคิดในการสอบเทียบมวลขั้นตอนวิธีโดยป้อนค่า AC เป็น ตัวแปร เนื่องจากความสัมพันธ์ระหว่างลาด / สกัดกั้นและ AC แบบเป็นเชิงเส้น เนินการแก้ไขที่สองและสกัดกั้นอาจจะจัดตั้งขึ้น